基于MCP的光子计数成像数据采集系统的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 图目录 | 第12-16页 |
| 表目录 | 第16-17页 |
| 縮略词对照表 | 第17-21页 |
| 第1章 绪论 | 第21-33页 |
| ·研究背景及意义 | 第21-23页 |
| ·MCP探测器的国内外研究进展 | 第23-24页 |
| ·基于MCP的光子计数成像探测器技术指标 | 第24-31页 |
| ·空间分辨率 | 第25-29页 |
| ·计数率 | 第29-30页 |
| ·光子成像探测器的具体指标 | 第30-31页 |
| ·本文主要研究内容 | 第31-33页 |
| 第2章 单光子计数成像探测器原理 | 第33-47页 |
| ·光子探测器 | 第33-40页 |
| ·光电效应 | 第33-34页 |
| ·光电倍增管 | 第34-35页 |
| ·光电二极管 | 第35-36页 |
| ·雪崩光电二极管 | 第36-37页 |
| ·电荷耦合器件 | 第37-38页 |
| ·微通道板 | 第38-40页 |
| ·基于MCP的位敏阳极 | 第40-46页 |
| ·电荷感应技术 | 第40-42页 |
| ·阻性阳极 | 第42-43页 |
| ·交叉条阳极 | 第43页 |
| ·游标阳极 | 第43-44页 |
| ·楔条阳极 | 第44-46页 |
| ·基于楔条阳极的MCP探测器研究现状 | 第46-47页 |
| 第3章 基于MCP的光子计数成像探测器的读出方案 | 第47-83页 |
| ·电荷测量方法分析 | 第47-54页 |
| ·电荷灵敏放大器 | 第48-49页 |
| ·极零相消 | 第49-51页 |
| ·滤波成形 | 第51-52页 |
| ·幅度提取 | 第52-54页 |
| ·电子学读出总体方案 | 第54页 |
| ·前端电子学 | 第54-59页 |
| ·前置放大电路 | 第55-57页 |
| ·极零相消电路 | 第57页 |
| ·S-K成形电路 | 第57-59页 |
| ·线性放大电路 | 第59页 |
| ·后端DAQ设计 | 第59-70页 |
| ·单端转差分电路 | 第60-62页 |
| ·模数变换 | 第62-65页 |
| ·图像存储器 | 第65-66页 |
| ·通讯接口设计 | 第66-67页 |
| ·高压控制 | 第67-68页 |
| ·FPGA设计 | 第68-70页 |
| ·电源设计 | 第70页 |
| ·图像显示软件 | 第70-73页 |
| ·自定义通信协议 | 第71-72页 |
| ·VISA读写模块 | 第72-73页 |
| ·软件数据流控制 | 第73页 |
| ·FPGA逻辑设计 | 第73-83页 |
| ·峰值算法 | 第74-75页 |
| ·硬件数据流程图 | 第75-76页 |
| ·基线求平均 | 第76-77页 |
| ·图像译码 | 第77页 |
| ·坐标修正 | 第77-79页 |
| ·图像保存 | 第79-80页 |
| ·高压控制 | 第80页 |
| ·通讯接口 | 第80-81页 |
| ·计数率 | 第81-83页 |
| 第4章 系统测试 | 第83-93页 |
| ·前端电子学测试 | 第83-85页 |
| ·数据采集板测试 | 第85-93页 |
| ·ADC静态性能测试 | 第85-89页 |
| ·ADC动态性能测试 | 第89-93页 |
| 第5章 实验结果及讨论 | 第93-101页 |
| ·暗背景测试 | 第94-95页 |
| ·分辨率 | 第95-96页 |
| ·计数率 | 第96-97页 |
| ·堆积判弃设计 | 第97-101页 |
| 第6章 博士期间的其他工作 | 第101-117页 |
| ·TGC仿真信号源 | 第104-110页 |
| ·信号源的整体设计方案 | 第105-106页 |
| ·真随机数产生器 | 第106-108页 |
| ·FPGA内的逻辑设计 | 第108-109页 |
| ·随机数分析 | 第109-110页 |
| ·信号源的性能测试 | 第110-117页 |
| ·随机数性能测试 | 第110-112页 |
| ·电子学性能测试 | 第112-113页 |
| ·网络速度测试 | 第113-117页 |
| 第7章 总结与展望 | 第117-119页 |
| ·总结 | 第117-118页 |
| ·展望 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-125页 |
| 附录A 原理图、版图汇总 | 第125-135页 |
| 致谢 | 第135-137页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第137-138页 |
