| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| ·ATLAS探测器 | 第13-18页 |
| ·ATLAS探测器及其辐照环境 | 第13-16页 |
| ·Phase Ⅰ、Ⅱ升级中光纤数据链的需求分析 | 第16-18页 |
| ·基于VCSEL Array的并行光纤发送模块 | 第18-21页 |
| 第二章 12通道120 Gbps并行光纤发送模块(ATx) | 第21-58页 |
| ·ATx模块整体概述 | 第21-23页 |
| ·ATx模块的电接口 | 第23-32页 |
| ·EdgeWrap半孔接口版本 | 第23-28页 |
| ·可插拔版本 | 第28-29页 |
| ·更多接口形式 | 第29-31页 |
| ·陶瓷基板版本 | 第31-32页 |
| ·ATx模块的光接口 | 第32-37页 |
| ·自行设计的一个可靠、低成本的um量级对齐方案 | 第37-45页 |
| ·业界现有的对齐方案 | 第37-39页 |
| ·自行设计的一个可靠、低成本的um量级对齐方案 | 第39-41页 |
| ·根据输出光强指引下的对齐过程 | 第41-43页 |
| ·光耦合插入损耗测试 | 第43-45页 |
| ·ATx模块的组装 | 第45-50页 |
| ·芯片裸片贴装 | 第45-47页 |
| ·金线互连 | 第47-48页 |
| ·光学组件(MOI)的对齐 | 第48-49页 |
| ·环氧树脂胶固定MOI | 第49-50页 |
| ·回流焊 | 第50页 |
| ·ATx模块的测试 | 第50-55页 |
| ·ATx模块的光眼图测试 | 第52-53页 |
| ·BER误码率测试 | 第53-55页 |
| ·光学组件的辐射测试 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第三章 抗辐射阵列式VCSEL激光器驱动ASIC芯片 | 第58-87页 |
| ·VCSEL激光器及驱动器指标需求分析 | 第58-61页 |
| ·VCSEL和阵列式VCSEL的常规驱动方式 | 第61-63页 |
| ·LOC1d2014的设计 | 第63-72页 |
| ·有源并联峰化技术 | 第64-67页 |
| ·双臂平衡式的最终驱动级设计 | 第67-72页 |
| ·原理图、版图及引脚定义 | 第72-76页 |
| ·仿真 | 第76-79页 |
| ·测试 | 第79-85页 |
| ·光眼图实测 | 第79-82页 |
| ·多通道测试 | 第82-84页 |
| ·误码率测试 | 第84-85页 |
| ·本章小结 | 第85-87页 |
| 第四章 光纤数据传输数字接口ASIC芯片(LOCic) | 第87-117页 |
| ·LOCic芯片的应用背景及设计指标需求分析 | 第87-89页 |
| ·LOCic芯片的设计 | 第89-110页 |
| ·LOCic的数据帧格式与整体结构 | 第89-92页 |
| ·FIFO模块 | 第92-97页 |
| ·Scrambler扰码模块 | 第97-100页 |
| ·CRC模块 | 第100-103页 |
| ·BCID计数模块 | 第103-105页 |
| ·时钟分发模块 | 第105-106页 |
| ·各模块延迟分析与Frame Builder组帧模块 | 第106-107页 |
| ·各模块接口间的时序裕度保证及系统时钟树 | 第107-110页 |
| ·芯片封装 | 第110-111页 |
| ·测试 | 第111-116页 |
| ·逻辑功能与延迟测试 | 第112-114页 |
| ·ADC通道间晃动测试 | 第114-116页 |
| ·本章小结 | 第116-117页 |
| 第五章 总结与展望 | 第117-120页 |
| ·内容总结 | 第117-118页 |
| ·展望 | 第118-120页 |
| 致谢 | 第120-122页 |
| 参考文献总表 | 第122-124页 |
| 攻读学位期间发表文章 | 第124页 |
