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半导体制造厂电压骤降问题及治理

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
引言第6-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·电力品质的概念第7-8页
   ·半导体工厂电压骤降问题的提出第8-9页
   ·国内外研究现状第9-10页
   ·本文的主要研究对象及主要工作第10-11页
第二章 电压骤降的基本概念及检测方法第11-20页
   ·电压骤降定义第11页
   ·电压骤降的产生原因第11-12页
   ·电压骤降的特征量第12-14页
   ·电压骤降特征量的理论计算第14-15页
   ·电压骤降检测方法第15-20页
     ·电压骤降检测算法第15-17页
     ·常用的电力品质监测仪器第17-20页
第三章 半导体工厂的电压骤降问题及现有治理方案的缺陷第20-34页
   ·半导体行业应对电压骤降遵循的准则第20-24页
   ·SM公司电压骤降的监测与统计第24-26页
   ·电压骤降对半导体敏感设备的影响第26-29页
   ·SM半导体厂现有治理方案的缺陷第29-34页
     ·SM半导体厂电力系统构架第29-32页
     ·分析现有电压骤降治理方案存在的缺陷第32-34页
第四章 SM半导体厂电压骤降治理方案的确立第34-58页
   ·SM半导体厂电压骤降的治理策略分析第34-51页
     ·电压骤降治理方案分析第34-39页
     ·新型电压骤降治理装置DVR的分析第39-44页
     ·DVR装置的改进设计第44-50页
     ·改进型动态电压补偿器在厂务系统的应用第50-51页
   ·SM半导体厂电压骤降治理效果第51-56页
     ·电压骤降发生器验证第51-54页
     ·真实电压骤降事件的验证第54-56页
   ·半导体工厂应对电压骤降事件的紧急应变流程第56-58页
第五章 总结和展望第58-59页
   ·总结第58页
   ·展望第58-59页
参考文献第59-62页
致谢第62-63页

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