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Ee~-BES-40A光栅扫描电子束曝光机控制系统的改进研究

摘要第1-8页
ABSTRACT第8-10页
第一章 绪论第10-20页
   ·集成电路的发展现状和发展趋势第10-12页
   ·微机电系统的发展第12-16页
     ·概念第12-13页
     ·微机电系统的特点及应用第13-14页
     ·国内外研究现状第14-16页
   ·电子束曝光技术第16-20页
     ·电子束曝光技术特点第16-17页
     ·电子束曝光技术的应用第17-19页
     ·电子束曝光技术的限制第19-20页
第二章 电子束曝光机第20-29页
   ·电子束曝光机的发展历史及现状第20-23页
     ·国外发展状况第20-21页
     ·国内发展状况第21-23页
   ·电子束曝光机的原理及组成第23-24页
     ·电子束曝光机的组成第23-24页
     ·电子束曝光机的曝光原理第24页
   ·电子束曝光机的扫描方式第24-29页
     ·光栅扫描第25-27页
     ·矢量扫描第27-29页
第三章 Ee~-BES-40A电子束曝光系统第29-41页
   ·系统简介第29-30页
     ·概况第29页
     ·主要单元第29-30页
   ·曝光主机系统硬件第30-32页
     ·光学系统第30页
     ·电子枪第30页
     ·电子光主体第30-32页
     ·工作室、工作台及其驱动第32页
     ·激光干涉定位系统第32页
     ·换片机构第32页
     ·真空系统第32页
     ·空气悬浮系统第32页
   ·控制台系统硬件第32-35页
     ·Eclipse计算机第33-34页
     ·主终端和辅助终端第34页
     ·微控(Minicon)和图形存储器第34页
     ·工件台控制接口和伺服放大器第34页
     ·通用I/O接口第34页
     ·换片机构控制器第34页
     ·离子泵控制器第34-35页
     ·电子束控制单元第35页
     ·电源第35页
   ·刻写系统第35-38页
     ·条带第35-36页
     ·位图第36页
     ·地址第36-38页
   ·软件系统简介第38-39页
     ·Eclipse:系统控制器第38页
     ·RDOS第38页
     ·CLI第38页
     ·文件第38页
     ·数据处理软件第38-39页
   ·Ee~-BES-40A光栅扫描曝光机的性能分析第39-41页
第四章 Ee~-BES-40A工件台扫描控制系统第41-57页
   ·控制系统第41-44页
   ·工件台扫描系统组成第44-45页
   ·控制原理及过程第45页
     ·控制原理第45页
     ·控制过程第45页
   ·工件台控制接口第45-57页
     ·控制接口第45-46页
     ·I/O板第46-48页
     ·控制板第48-50页
     ·轴板第50-52页
     ·速度板第52-54页
     ·激光接口板和消息单元板第54-55页
     ·电压鉴别板第55页
     ·终端和读出(T&R)板第55-57页
第五章 图形发生器及接口设计第57-69页
   ·Ee~-BES-40A电子束曝光机的光栅扫描图形生成系统第57-62页
     ·微控制器的控制功能第57-58页
     ·微控制器的组成和指令格式第58页
     ·接口电路第58-60页
     ·图形存储器第60-62页
   ·矢量扫描图形发生器原理及实现第62-64页
     ·图形发生器原理第62-64页
     ·图形发生器数据信号第64页
   ·接口设计第64-69页
     ·ISA总线标准第65-67页
     ·端口第67-68页
     ·关于干扰第68-69页
结束语第69-70页
参考文献第70-73页
致谢第73-74页
攻读硕士学位期间发表的论文第74-75页
学位论文评阅及答辩情况表第75页

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