基于专利计量的企业技术能力测度研究--以平板显示领域为例
摘要 | 第2-3页 |
Abstract | 第3-4页 |
1 绪论 | 第7-16页 |
1.1 研究背景 | 第7-8页 |
1.2 研究目的与意义 | 第8页 |
1.2.1 研究的目的 | 第8页 |
1.2.2 研究的意义 | 第8页 |
1.3 国内外文献综述 | 第8-13页 |
1.3.1 技术能力概念研究综述 | 第9-10页 |
1.3.2 企业技术能力的分类 | 第10-11页 |
1.3.3 企业技术能力的测度 | 第11-12页 |
1.3.4 基于专利计量的技术能力测度 | 第12-13页 |
1.3.5 已有研究对现有研究的启示 | 第13页 |
1.4 研究框架及研究内容 | 第13-16页 |
1.4.1 研究框架 | 第13-15页 |
1.4.2 研究内容 | 第15页 |
1.4.3 本研究的创新之处 | 第15-16页 |
2 理论框架和数据分析流程 | 第16-27页 |
2.1 理论框架 | 第16-20页 |
2.1.1 相关概念的界定 | 第16页 |
2.1.2 指标设计 | 第16-18页 |
2.1.3 技术能力静态测度分析框架 | 第18-19页 |
2.1.4 技术能力动态测度分析框架 | 第19-20页 |
2.2 分析流程 | 第20-24页 |
2.2.1 数据准备 | 第20-22页 |
2.2.2 专利耦合和引用分析 | 第22-23页 |
2.2.3 技术能力测度分析与可视化 | 第23页 |
2.2.4 结果分析 | 第23-24页 |
2.3 测度的方法与内容 | 第24-25页 |
2.3.1 专利耦合的分析方法与内容 | 第24-25页 |
2.3.2 专利计量的方法与内容 | 第25页 |
2.4 本章小结 | 第25-27页 |
3 平板显示领域企业技术能力静态测度分析 | 第27-46页 |
3.1 专利耦合分析与可视化 | 第27-32页 |
3.1.1 专利耦合统计性分析 | 第27-29页 |
3.1.2 专利耦合可视化分析 | 第29-32页 |
3.2 企业技术能力测度分析 | 第32-44页 |
3.2.1 企业技术能力组群测度分析 | 第32-39页 |
3.2.2 企业技术能力个体测度分析 | 第39-44页 |
3.3 研究启示 | 第44-45页 |
3.4 本章小结 | 第45-46页 |
4 平板显示领域企业技术能力动态测度分析 | 第46-66页 |
4.1 企业技术能力的个体测度分析 | 第46-51页 |
4.1.1 个体的分类 | 第46-49页 |
4.1.2 个体技术能力的动态变化 | 第49-51页 |
4.2 企业技术能力测度组群特征 | 第51-63页 |
4.2.1 组群技术能力演化特征 | 第51-52页 |
4.2.2 组群专利权人空间地理演化分析 | 第52-62页 |
4.2.3 技术能力生命周期的演化 | 第62-63页 |
4.3 研究启示 | 第63-64页 |
4.4 本章小结 | 第64-66页 |
结论 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-73页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-76页 |