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应力诱发下内连导线中微裂纹的演化

摘要第4-5页
abstract第5页
注释表第11-12页
第一章 绪论第12-20页
    1.1 引言第12-14页
    1.2 内连导线中物质输运机制第14-15页
        1.2.1 界面迁移机制第14页
        1.2.2 扩散传质机制第14-15页
        1.2.3 粘滞流动与塑性变形机制第15页
    1.3 内连导线中的常见驱动力第15-16页
        1.3.1 应力迁移第15页
        1.3.2 电迁移第15-16页
        1.3.3 热迁移第16页
    1.4 内连导线中微结构演化的研究现状第16-19页
        1.4.1 微结构演化的实验观察第17页
        1.4.2 微结构演化的理论分析和数值模拟第17-19页
    1.5 本文的研究思路和主要工作第19-20页
第二章 应力诱发界面迁移下微结构演化的有限单元法第20-33页
    2.1 引言第20页
    2.2 界面迁移基本理论第20-23页
        2.2.1 自由能第21-22页
        2.2.2 虚运动与动力学定律第22-23页
        2.2.3 界面迁移下的弱解描述第23页
    2.3 应力诱发界面迁移下微裂纹模型第23-24页
        2.3.1 应力场作用下晶内微裂纹模型第23-24页
        2.3.2 应力场作用下沿晶微裂纹模型第24页
    2.4 微结构演化的有限单元法第24-30页
        2.4.1 应力场的ANSYS求解第25-26页
        2.4.2 微裂纹的模型建立和网格划分第26-27页
        2.4.3 单元控制方程第27-28页
        2.4.4 整体控制方程第28-29页
        2.4.5 边界条件第29页
        2.4.6 有限元计算中的几个问题第29-30页
    2.5 有限元法的可靠性验证第30-32页
    2.6 本章小结第32-33页
第三章 应力诱发界面迁移下微裂纹的演化第33-50页
    3.1 引言第33-34页
    3.2 晶内微裂纹的演化第34-41页
        3.2.1 晶内微裂纹演化图第34页
        3.2.2 应力对晶内微裂纹演化的影响第34-36页
        3.2.3 线宽对晶内微裂纹演化的影响第36-37页
        3.2.4 形态比对晶内微裂纹演化的影响第37-38页
        3.2.5 化学势差对晶内微裂纹演化的影响第38-41页
    3.3 沿晶微裂纹的演化第41-49页
        3.3.1 沿晶微裂纹演化图第41-42页
        3.3.2 应力对沿晶微裂纹演化的影响第42-44页
        3.3.3 线宽对沿晶微裂纹演化的影响第44-45页
        3.3.4 形态比对沿晶微裂纹演化的影响第45-47页
        3.3.5 化学势差对沿晶微裂纹演化的影响第47-49页
    3.4 本章小结第49-50页
第四章 应力诱发多种机制下沿晶微裂纹的演化第50-59页
    4.1 引言第50-51页
    4.2 拉压应力下沿晶微裂纹模型第51页
    4.3 应力诱发表面扩散和界面迁移下的有限元法第51-55页
        4.3.1 包含界面迁移和表面扩散的弱解描述第51-53页
        4.3.2 单元控制方程第53-54页
        4.3.3 整体控制方程第54-55页
    4.4 拉压应力下沿晶微裂纹的演化第55-58页
        4.4.1 K对沿晶微裂纹分节演化过程的影响第55-56页
        4.4.2 K对沿晶微裂纹分节时间和裂腔面积的影响第56-57页
        4.4.3 K对沿晶微裂纹分节临界形态比的影响第57-58页
    4.5 结论第58-59页
第五章 总结与展望第59-61页
    5.1 本文的主要工作和结论第59页
    5.2 未来工作展望第59-61页
参考文献第61-66页
致谢第66-67页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第67页

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