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高压增强型GaN HFET机理与新结构研究

摘要第4-5页
abstract第5-6页
第一章 绪论第9-16页
    1.1 研究背景第9-10页
    1.2 GaN材料特性第10-12页
    1.3 AlGaN/GaN HFET国内外研究现状第12-15页
    1.4 本论文主要工作第15-16页
第二章 AlGaN/GaN HFET的工作机理第16-31页
    2.1 极化机理与二维电子气第16-21页
        2.1.1 极化机理第16-18页
        2.1.2 二维电子气第18-21页
    2.2 AlGaN/GaN HFET的器件结构与工作原理第21-22页
    2.3 AlGaN/GaN HFET增强型及高耐压技术第22-30页
        2.3.1 增强型实现技术第22-26页
        2.3.2 高耐压技术第26-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第三章 对称极化掺杂增强型AlGaN/GaN HFET研究第31-49页
    3.1 极化掺杂技术第31-34页
    3.2 SPD-HFET器件结构与工作机理第34-38页
        3.2.1 器件结构特征第34-35页
        3.2.2 工作机理第35-38页
    3.3 SPD-HFET器件静态特性分析第38-43页
        3.3.1 导通特性第38-42页
        3.3.2 阻断特性第42-43页
        3.3.3 静态特性小结第43页
    3.4 SPD-HFET器件关键参数研究第43-47页
    3.5 工艺实施方案第47-48页
    3.6 本章小结第48-49页
第四章 纵向超结增强型AlGaN/GaN HFET研究第49-65页
    4.1 纵向GaNFET功率器件概述第49-52页
    4.2 VSJ-HFET器件结构与工作原理第52-54页
    4.3 VSJ-HFET器件静态特性分析第54-59页
        4.3.1 导通特性第54-56页
        4.3.2 阻断特性第56-59页
        4.3.3 静态特性小结第59页
    4.4 VSJ-HFET器件关键参数研究第59-64页
        4.4.1 CBL掺杂浓度的影响第59-62页
        4.4.2 N/P条掺杂浓度的影响第62-64页
    4.5 本章小结第64-65页
第五章 结论第65-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-74页
攻硕期间取得的研究成果第74页

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