| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-46页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 微电子封装技术概述 | 第14-20页 |
| 1.2.1 微电子封装技术 | 第14-17页 |
| 1.2.2 微电子封装技术的发展及趋势 | 第17-20页 |
| 1.3 堆叠封装（PoP）技术 | 第20-26页 |
| 1.4 振动条件下封装可靠性研究 | 第26-44页 |
| 1.4.1 封装可靠性 | 第27-28页 |
| 1.4.2 振动可靠性研究现状 | 第28-44页 |
| 1.5 论文的研究目的及方法 | 第44-46页 |
| 第二章 振动试验设计及有限元建模 | 第46-62页 |
| 2.1 引言 | 第46页 |
| 2.2 试验样品 | 第46-48页 |
| 2.3 试验平台搭建 | 第48-53页 |
| 2.3.1 振动夹具设计 | 第48-50页 |
| 2.3.2 失效监测系统 | 第50页 |
| 2.3.3 模态试验平台搭建 | 第50-51页 |
| 2.3.4 振动试验平台搭建 | 第51-53页 |
| 2.4 有限元建模分析 | 第53-60页 |
| 2.4.1 有限元方法及ANSYS软件简介 | 第53-54页 |
| 2.4.2 有限元模态分析基础理论 | 第54-56页 |
| 2.4.3 有限元模型的建立及网格划分 | 第56-59页 |
| 2.4.4 模型验证及模态试验结果分析 | 第59-60页 |
| 2.5 本章小结 | 第60-62页 |
| 第三章 振动条件下PoP焊点失效行为及疲劳特性研究 | 第62-82页 |
| 3.1 引言 | 第62页 |
| 3.2 振动条件下焊点失效分布统计及分析 | 第62-66页 |
| 3.2.1 线性扫频分析 | 第62-63页 |
| 3.2.2 焊点失效统计和关键焊点分析 | 第63-66页 |
| 3.3 失效机理分析 | 第66-69页 |
| 3.4 裂纹的起源与扩展机理讨论 | 第69-72页 |
| 3.5 疲劳特性S-N曲线研究 | 第72-80页 |
| 3.5.1 PoP封装焊点S-N曲线的建立 | 第72-75页 |
| 3.5.2 不同封装结构S-N曲线对比分析 | 第75-80页 |
| 3.6 本章小结 | 第80-82页 |
| 第四章 随机振动条件下Po P焊点的疲劳寿命预测模型 | 第82-104页 |
| 4.1 引言 | 第82页 |
| 4.2 随机振动基础理论 | 第82-86页 |
| 4.2.1 随机振动和功率谱密度 | 第82-84页 |
| 4.2.2 功率谱的谱参数 | 第84-85页 |
| 4.2.3 幅值概率密度函数 | 第85-86页 |
| 4.3 频域内疲劳寿命估算方法 | 第86-88页 |
| 4.3.1 疲劳累积损伤法则 | 第86-87页 |
| 4.3.2 频域内疲劳寿命的获得 | 第87-88页 |
| 4.4 基于应力功率谱的疲劳寿命预测模型 | 第88-91页 |
| 4.4.1 随机振动下疲劳寿命预测模型的建立 | 第88-90页 |
| 4.4.2 疲劳寿命预测结果分析 | 第90-91页 |
| 4.5 不同疲劳寿命预测模型的评述和比较 | 第91-103页 |
| 4.5.1 三区间法和几种常用频域寿命预测模型 | 第92-97页 |
| 4.5.2 不同疲劳寿命预测模型的对比分析 | 第97-103页 |
| 4.6 本章小结 | 第103-104页 |
| 第五章 基于田口试验法的PoP振动可靠性优化设计 | 第104-116页 |
| 5.1 引言 | 第104-105页 |
| 5.2 田口试验法的基本理论 | 第105-107页 |
| 5.2.1 田口试验法的基本原理 | 第105页 |
| 5.2.2 田口试验法的主要工具 | 第105-107页 |
| 5.3 基于数值模拟的田口试验设计 | 第107-111页 |
| 5.3.1 田口试验准备 | 第107-109页 |
| 5.3.2 品质因子 | 第109页 |
| 5.3.3 控制因子和水平 | 第109-110页 |
| 5.3.4 正交试验结果 | 第110-111页 |
| 5.4 结果讨论与分析 | 第111-114页 |
| 5.5 本章小结 | 第114-116页 |
| 第六章 底部填充对PoP振动可靠性的影响研究 | 第116-131页 |
| 6.1 引言 | 第116页 |
| 6.2 底部填充技术 | 第116-119页 |
| 6.2.1 底部填充技术简介 | 第116-118页 |
| 6.2.2 底部填充工艺及作用 | 第118-119页 |
| 6.3 底部填充后PoP振动可靠性的有限元分析 | 第119-129页 |
| 6.3.1 不同填充工艺下的有限元模型 | 第119-124页 |
| 6.3.2 随机振动有限元分析 | 第124-129页 |
| 6.4 本章小结 | 第129-131页 |
| 结论与展望 | 第131-134页 |
| 参考文献 | 第134-146页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第146-148页 |
| 致谢 | 第148-149页 |
| 附件 | 第149页 |