| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 课题研究现状与本论文研究的意义 | 第11-12页 |
| 1.3 食品安全光谱仪简介及其测试原理 | 第12-15页 |
| 1.4 论文内容与组织结构安排 | 第15-16页 |
| 第二章 CCD光学传感器和ILX554B介绍 | 第16-24页 |
| 2.1 CCD传感器种类介绍 | 第16-17页 |
| 2.1.1 CCD简要介绍 | 第16页 |
| 2.1.2 线阵图像传感器 | 第16-17页 |
| 2.1.3 面阵图像传感器 | 第17页 |
| 2.2 CCD特征参数分析 | 第17-18页 |
| 2.2.1 电荷转移有效率 | 第17-18页 |
| 2.2.2 暗电流（dark current） | 第18页 |
| 2.2.3 分辨率 | 第18页 |
| 2.2.4 光谱响应范围 | 第18页 |
| 2.3 CCD噪声分析 | 第18-19页 |
| 2.4 线阵图像传感器ILX554B选型与原理介绍 | 第19-22页 |
| 2.4.1 ILX554B数据参数与工作原理简介 | 第19-21页 |
| 2.4.2 影响ILX554B的性能参数分析 | 第21-22页 |
| 2.5 光栅分光采集处理系统介绍 | 第22-24页 |
| 第三章 下位机CCD模块的硬件与软件设计 | 第24-41页 |
| 3.1 下位机CCD模块的硬件设计 | 第24-31页 |
| 3.1.1 CCD模块需求分析 | 第24-25页 |
| 3.1.2 STM32F415 最小系统分析 | 第25-26页 |
| 3.1.3 ILX554B数据接收与转移电路 | 第26-29页 |
| 3.1.3.1 ILX554B工作时序介绍 | 第26-27页 |
| 3.1.3.2 ILX554B工作电路和信号放大转换电路 | 第27-29页 |
| 3.1.4 信号电平转换电路和STM32F415 电源电路 | 第29-30页 |
| 3.1.5 JTAG接口电路及电路总体布局 | 第30-31页 |
| 3.2 下位机CCD模块的软件设计 | 第31-41页 |
| 3.2.1 STM32F415 开发环境介绍和软件需求分析 | 第31-33页 |
| 3.2.2 端口初始化和中断参数配置与分析 | 第33-36页 |
| 3.2.2.1 输入输出控制端口配置 | 第33-34页 |
| 3.2.2.2 串口信号接收发送配置 | 第34页 |
| 3.2.2.3 ADC端口配置 | 第34-35页 |
| 3.2.2.4 中断功能设置 | 第35-36页 |
| 3.2.3 STM32F415 数据采集处理模块设计 | 第36-39页 |
| 3.2.3.1 中断处理模块设计 | 第36页 |
| 3.2.3.2 数据采集和发送模块设计 | 第36-39页 |
| 3.2.4 信号去噪方法分析和实现 | 第39-41页 |
| 第四章上位机端系统平台搭建 | 第41-51页 |
| 4.1 嵌入式开发平台选型介绍 | 第41-43页 |
| 4.1.1 嵌入式硬件平台选型与介绍 | 第41-42页 |
| 4.1.2 嵌入式软件平台选型与介绍 | 第42-43页 |
| 4.2 嵌入式软件平台搭建 | 第43-49页 |
| 4.2.1 交叉开发环境配置 | 第43-44页 |
| 4.2.2 Bootloader介绍与移植 | 第44-45页 |
| 4.2.3 Linux内核介绍与移植 | 第45-48页 |
| 4.2.4 yaffs2 根文件系统介绍与移植 | 第48-49页 |
| 4.3 Qt-Embedded和SQLite数据库环境搭建 | 第49-51页 |
| 第五章 上位机端软件设计 | 第51-61页 |
| 5.1 Qt开发环境和软件架构介绍 | 第51-52页 |
| 5.2 农药残留检测模块设计 | 第52-55页 |
| 5.2.1 农残校零部分 | 第53-54页 |
| 5.2.2 农残测量部分 | 第54-55页 |
| 5.3 多参数检测模块设计 | 第55-56页 |
| 5.4 光谱扫描模块设计 | 第56页 |
| 5.5 串口数据读取与分析模块设计 | 第56-58页 |
| 5.5.1 串口初始化函数 | 第57页 |
| 5.5.2 串口指令发送和数据接收函数 | 第57-58页 |
| 5.6 Qt程序与SQLite数据库联合使用设计 | 第58-61页 |
| 第六章 系统测试与总结展望 | 第61-69页 |
| 6.1 系统移植测试 | 第61-62页 |
| 6.2 STM32F415 降噪效果验证 | 第62-63页 |
| 6.3 应用程序测试 | 第63-66页 |
| 6.3.1 农药残留检测界面 | 第64-65页 |
| 6.3.2 多参数检测界面 | 第65页 |
| 6.3.3 光谱扫面界面 | 第65-66页 |
| 6.4 测量结果测试 | 第66-67页 |
| 6.5 总结与展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 附录 个人简历 | 第73页 |
