芯片级封装底部填充胶水的评估
第1章 引言 | 第1-12页 |
·缩略语简介 | 第9页 |
·芯片级封装 | 第9-10页 |
·底部填充技术简介 | 第10-11页 |
·目的 | 第11页 |
·底部填充胶水的评估范围和目标 | 第11-12页 |
第2章 评估准则 | 第12-22页 |
·微电子封装互连焊点的可靠性 | 第13-15页 |
·焊点的力学本构方程 | 第13-15页 |
·热循环过程中焊点内部的应力、应变响应 | 第15页 |
·芯片级封装的可靠性 | 第15-16页 |
·机械可靠性 | 第15-16页 |
·热循环可靠性 | 第16页 |
·底部填充增加焊点的可靠性 | 第16页 |
·测试板设计 | 第16-18页 |
·评估项目及流程 | 第18-19页 |
·评估矩阵 | 第19-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第3章 材料及设备 | 第22-26页 |
·底部填充胶水与装配设备 | 第22-23页 |
·元件和PCB 板 | 第23-24页 |
·元件 | 第23页 |
·PCB 板 | 第23-24页 |
·物料检查 | 第24-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第4章 SMT 及底部填充工艺 | 第26-41页 |
·组装设备 | 第26页 |
·组装工艺流程图 | 第26-28页 |
·流程总图概述 | 第26-27页 |
·SMT 流程图 | 第27-28页 |
·底部填充工艺流程图 | 第28页 |
·SMT 组装流程描述 | 第28-32页 |
·焊膏印刷 | 第29-30页 |
·印刷参数设置 | 第29页 |
·印刷后检查 | 第29页 |
·焊膏厚度 | 第29-30页 |
·QP242E 设置 | 第30页 |
·回流焊前检查 | 第30页 |
·回流焊 | 第30-31页 |
·程序参数 | 第30页 |
·温度要求 | 第30-31页 |
·测试 | 第31-32页 |
·回流焊前检查 | 第31页 |
·X-Ray 检查 | 第31-32页 |
·电子测试 | 第32页 |
·角落绑定工艺 | 第32-34页 |
·参数设置 | 第32-33页 |
·实际检查 | 第33-34页 |
·底部填充工艺 | 第34-39页 |
·参数设置 | 第34-35页 |
·PCB 进入方向以及点胶模式 | 第35-36页 |
·固化要求及参数设置 | 第36-37页 |
·底部填充工艺数据跟踪 | 第37-38页 |
·底部填充返修工艺 | 第38-39页 |
·组装工艺问题总结 | 第39-40页 |
·结果分析 | 第39页 |
·缺陷分析 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第5章 可靠性测试 | 第41-58页 |
·测试设备 | 第41-42页 |
·剪切测试 | 第42-44页 |
·PCBA 测试板和底部填充胶水 | 第42页 |
·剪切测试的目的 | 第42页 |
·剪切测试结果 | 第42-43页 |
·剪切测试分析 | 第43-44页 |
·弯曲测试 | 第44-47页 |
·PCBA 弯曲测试板和底部填充胶水 | 第45页 |
·弯曲测试失效准则 | 第45页 |
·弯曲测试结果 | 第45-46页 |
·弯曲测试结果分析 | 第46-47页 |
·跌落测试 | 第47-51页 |
·PCBA 跌落测试板和底部填充胶水 | 第47-48页 |
·跌落测试标准 | 第48页 |
·跌落测试结果 | 第48-49页 |
·跌落测试结果分析 | 第49-51页 |
·热冲击测试 | 第51-52页 |
·热冲击测试矩阵 | 第51页 |
·热冲击测试标准 | 第51页 |
·热冲击测试结果 | 第51-52页 |
·剪切,弯曲,跌落,热冲击可靠性测试结果 | 第52-53页 |
·失效分析 | 第53-57页 |
·失效分析矩阵 | 第53页 |
·切片分析 | 第53-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
第6章 底部填充胶水供应商 | 第58-60页 |
·目标:认证供应商 | 第58页 |
·胶水供应商 | 第58页 |
·价格 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第7章 结论 | 第60-63页 |
·各种底部填充胶水特性 | 第60-61页 |
·不可返修的底部填充胶水 | 第60-61页 |
·可返修的底部填充胶水 | 第61页 |
·两种不同情况比较 | 第61页 |
·结论 | 第61页 |
·目前新的研究方向 | 第61-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-64页 |
感谢 | 第64-65页 |
附录 | 第65-66页 |
苏州大学硕士专业学位论文详细摘要 | 第66-67页 |