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芯片级封装底部填充胶水的评估

第1章 引言第1-12页
   ·缩略语简介第9页
   ·芯片级封装第9-10页
   ·底部填充技术简介第10-11页
   ·目的第11页
   ·底部填充胶水的评估范围和目标第11-12页
第2章 评估准则第12-22页
   ·微电子封装互连焊点的可靠性第13-15页
     ·焊点的力学本构方程第13-15页
     ·热循环过程中焊点内部的应力、应变响应第15页
   ·芯片级封装的可靠性第15-16页
     ·机械可靠性第15-16页
     ·热循环可靠性第16页
     ·底部填充增加焊点的可靠性第16页
   ·测试板设计第16-18页
   ·评估项目及流程第18-19页
   ·评估矩阵第19-21页
   ·本章小结第21-22页
第3章 材料及设备第22-26页
   ·底部填充胶水与装配设备第22-23页
   ·元件和PCB 板第23-24页
     ·元件第23页
     ·PCB 板第23-24页
   ·物料检查第24-25页
   ·本章小结第25-26页
第4章 SMT 及底部填充工艺第26-41页
   ·组装设备第26页
   ·组装工艺流程图第26-28页
     ·流程总图概述第26-27页
     ·SMT 流程图第27-28页
     ·底部填充工艺流程图第28页
   ·SMT 组装流程描述第28-32页
     ·焊膏印刷第29-30页
       ·印刷参数设置第29页
       ·印刷后检查第29页
       ·焊膏厚度第29-30页
     ·QP242E 设置第30页
     ·回流焊前检查第30页
     ·回流焊第30-31页
       ·程序参数第30页
       ·温度要求第30-31页
     ·测试第31-32页
       ·回流焊前检查第31页
       ·X-Ray 检查第31-32页
       ·电子测试第32页
   ·角落绑定工艺第32-34页
     ·参数设置第32-33页
     ·实际检查第33-34页
   ·底部填充工艺第34-39页
     ·参数设置第34-35页
     ·PCB 进入方向以及点胶模式第35-36页
     ·固化要求及参数设置第36-37页
     ·底部填充工艺数据跟踪第37-38页
     ·底部填充返修工艺第38-39页
   ·组装工艺问题总结第39-40页
     ·结果分析第39页
     ·缺陷分析第39-40页
   ·本章小结第40-41页
第5章 可靠性测试第41-58页
   ·测试设备第41-42页
   ·剪切测试第42-44页
     ·PCBA 测试板和底部填充胶水第42页
     ·剪切测试的目的第42页
     ·剪切测试结果第42-43页
     ·剪切测试分析第43-44页
   ·弯曲测试第44-47页
     ·PCBA 弯曲测试板和底部填充胶水第45页
     ·弯曲测试失效准则第45页
     ·弯曲测试结果第45-46页
     ·弯曲测试结果分析第46-47页
   ·跌落测试第47-51页
     ·PCBA 跌落测试板和底部填充胶水第47-48页
     ·跌落测试标准第48页
     ·跌落测试结果第48-49页
     ·跌落测试结果分析第49-51页
   ·热冲击测试第51-52页
     ·热冲击测试矩阵第51页
     ·热冲击测试标准第51页
     ·热冲击测试结果第51-52页
   ·剪切,弯曲,跌落,热冲击可靠性测试结果第52-53页
   ·失效分析第53-57页
     ·失效分析矩阵第53页
     ·切片分析第53-57页
   ·本章小结第57-58页
第6章 底部填充胶水供应商第58-60页
   ·目标:认证供应商第58页
   ·胶水供应商第58页
   ·价格第58-59页
   ·本章小结第59-60页
第7章 结论第60-63页
   ·各种底部填充胶水特性第60-61页
     ·不可返修的底部填充胶水第60-61页
     ·可返修的底部填充胶水第61页
     ·两种不同情况比较第61页
   ·结论第61页
   ·目前新的研究方向第61-62页
   ·本章小结第62-63页
参考文献第63-64页
感谢第64-65页
附录第65-66页
苏州大学硕士专业学位论文详细摘要第66-67页

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