| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·ESD 现象概述及研究现状 | 第10-11页 |
| ·ESD 相关基本概念 | 第11-15页 |
| ·常规ESD 防护器件 | 第11-12页 |
| ·常规ESD 防护电路 | 第12-14页 |
| ·全芯片ESD 防护构架 | 第14-15页 |
| ·论文工作与内容安排 | 第15-16页 |
| 第二章 ESD失效与放电模型 | 第16-22页 |
| ·ESD 失效种类 | 第16-17页 |
| ·ESD 放电模型 | 第17-22页 |
| ·人体放电模型(Human-Body Model, HBM) | 第17-19页 |
| ·机器放电模型(Machine Model, MM) | 第19-20页 |
| ·器件充电模型(Charged-Device Model, CDM) | 第20-21页 |
| ·电场感应模型(Field-Induced Model, FIM) | 第21-22页 |
| 第三章 系统级ESD防护的研究 | 第22-32页 |
| ·闩锁效应 | 第22-25页 |
| ·闩锁效应研究背景 | 第22页 |
| ·闩锁效应模型 | 第22-24页 |
| ·防止闩锁效应的措施 | 第24-25页 |
| ·系统级ESD 失效现象及必要性 | 第25-26页 |
| ·系统级ESD 失效机理分析及解决办法 | 第26-28页 |
| ·系统级ESD 对箝位电路的影响 | 第28-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 SCR防护器件结构分析与设计 | 第32-46页 |
| ·研究背景 | 第32-33页 |
| ·基本SCR 器件 | 第33-36页 |
| ·基本SCR 器件工作物理机理 | 第33-34页 |
| ·重要参数分析及解决办法 | 第34-36页 |
| ·新型的SCR 结构 | 第36-40页 |
| ·标准模块化设计工程 | 第40页 |
| ·动态双极晶体管触发SCR 器件分析与设计 | 第40-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 ESD电源箝位电路结构设计及优化 | 第46-58页 |
| ·电源箝位电路设计准则 | 第46-47页 |
| ·ESD 电源箝位电路 | 第47-49页 |
| ·电源箝位电路在ESD 防护中的作用 | 第47-48页 |
| ·典型RC 触发ESD 电源箝位电路 | 第48-49页 |
| ·新型ESD 电源箝位电路分析与设计 | 第49-57页 |
| ·新型ESD 电源箝位电路结构设计 | 第49-51页 |
| ·新型ESD 箝位电路的结构优化 | 第51-52页 |
| ·新型ESD 电源箝位电路的特性分析及参数优化 | 第52-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·总结 | 第58-59页 |
| ·展望 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 研究成果 | 第66-67页 |
