| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 LabView程序设计 | 第13-15页 |
| 1.3 论文主要工作和章节安排 | 第15-16页 |
| 1.3.1 论文主要工作 | 第15页 |
| 1.3.2 论文章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 试验检测装置总体架构 | 第16-20页 |
| 2.1 试验检测装置总体功能 | 第16页 |
| 2.2 试验检测装置总体结构 | 第16-17页 |
| 2.3 试验检测装置组成 | 第17-18页 |
| 2.3.1 硬件组成 | 第17-18页 |
| 2.3.2 软件组成 | 第18页 |
| 2.3.3 其他描述 | 第18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 试验检测装置硬件环境的设计与实现 | 第20-26页 |
| 3.1 FPGA硬件系统的设计与实现 | 第21-22页 |
| 3.1.1 FPGA系列芯片简介 | 第21页 |
| 3.1.2 FPGA系统硬件 | 第21-22页 |
| 3.2 DSP硬件系统的设计与实现 | 第22-23页 |
| 3.2.1 DSP系列芯片简介 | 第22-23页 |
| 3.2.2 DSP系统硬件设计 | 第23页 |
| 3.3 母板硬件系统的设计与实现 | 第23-24页 |
| 3.4 本章小结 | 第24-26页 |
| 第四章 试验检测装置功能模块测试的设计和实现 | 第26-34页 |
| 4.1 HPI程序加载与接口测试 | 第26-28页 |
| 4.2 McBSP接口测试 | 第28-29页 |
| 4.3 EMIF接口测试 | 第29-30页 |
| 4.4 通用寄存器、RAM测试 | 第30-31页 |
| 4.5 内核测试 | 第31-32页 |
| 4.6 本章小结 | 第32-34页 |
| 第五章 试验检测装置上位机的实现 | 第34-58页 |
| 5.1 测控平台简介 | 第34-37页 |
| 5.2 Lab View程序设计模式 | 第37-42页 |
| 5.3 上位机的实现 | 第42-50页 |
| 5.3.1 测控平台的功能需求 | 第42-43页 |
| 5.3.2 基于LabView的测控平台整体设计方案 | 第43页 |
| 5.3.3 界面设计 | 第43-44页 |
| 5.3.4 数据文件的设计 | 第44页 |
| 5.3.5 整体界面设计流程以及界面 | 第44-45页 |
| 5.3.6 每个模块的算法实现 | 第45-50页 |
| 5.4 相关协议的制定 | 第50-53页 |
| 5.4.1 协议帧的定义 | 第50-51页 |
| 5.4.2 事务处理流程 | 第51-52页 |
| 5.4.3 事务处理状态图 | 第52页 |
| 5.4.4 帧定界 | 第52-53页 |
| 5.4.5 协议定义 | 第53页 |
| 5.4.6 异常码定义 | 第53页 |
| 5.5 程序的性能优化 | 第53-56页 |
| 5.5.1 性能检测与分析 | 第54页 |
| 5.5.2 内存优化 | 第54-55页 |
| 5.5.3 用户界面的优化 | 第55-56页 |
| 5.6 本章小结 | 第56-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 总结 | 第58-59页 |
| 6.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 作者简介 | 第64-65页 |