| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题研究背景 | 第9-11页 |
| ·芯片中 DFX 功能的组成 | 第9-10页 |
| ·DFX 功能的设计必要性 | 第10页 |
| ·DFX 设计的特点和挑战 | 第10-11页 |
| ·课题研究意义及贡献 | 第11页 |
| ·论文章节结构 | 第11-13页 |
| 第二章 XD120 中 JTAG 微结构的设计 | 第13-25页 |
| ·JTAG 的结构和工作原理 | 第13-16页 |
| ·JTAG 的由来 | 第13页 |
| ·JTAG 和 P1500 协议简介 | 第13-16页 |
| ·处理器 XD120 中 JTAG 的微结构 | 第16-23页 |
| ·JTAG 控制器和 P1500 控制端的结构和联系 | 第16-21页 |
| ·SJC 控制器 | 第21-22页 |
| ·XD120 的 JTAG 控制微结构 | 第22-23页 |
| ·JTAG-P1500 结构在 XD120 中的优点和效果 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 XD120 的 SCAN 和 LBIST 微结构 | 第25-43页 |
| ·SCAN 基础 | 第25-26页 |
| ·SCAN 技术介绍 | 第25-26页 |
| ·SCAN 的技术难点 | 第26页 |
| ·SCAN 的微结构和在处理器 XD120 中的实现 | 第26-35页 |
| ·Launch 数目可控的 SCAN CLOCK GATER | 第26-28页 |
| ·SCAN 相关 CLOCK 的结构 | 第28-29页 |
| ·SCAN 的全芯片结构 | 第29-31页 |
| ·Single Chain 结构 | 第31-32页 |
| ·power-aware 的设计对 SCAN 的影响 | 第32-35页 |
| ·LBIST 的结构和实现 | 第35-40页 |
| ·LBIST 的理论基础 | 第35-36页 |
| ·LBIST 在 XD120 中的实现 | 第36-37页 |
| ·LBIST 的控制器和操作流程 | 第37-39页 |
| ·LBIST 实现的技术难点 | 第39-40页 |
| ·SCAN 和 LBIST 的测试效用和实现代价 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 Design For Debug 研究和在 XD120 中的实现 | 第43-55页 |
| ·DFD 的基本原理和方法 | 第43-46页 |
| ·DFD 设计的内容 | 第43-44页 |
| ·基于 SCAN 的方法 | 第44-45页 |
| ·基于 Debug Bus 的方法 | 第45-46页 |
| ·XD120 中 DFD 的芯片微结构 | 第46-52页 |
| ·Debug Client 的具体结构 | 第46-48页 |
| ·Debug Bus 的芯片结构 | 第48-50页 |
| ·Debug Bus 的 power-aware 设计 | 第50-52页 |
| ·在 XD120 中 Debug Bus 的性能和实现 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第五章 结束语 | 第55-57页 |
| ·总结 | 第55-56页 |
| ·技术展望 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 研究成果 | 第61-62页 |
