| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-10页 |
| ·国内外研究情况介绍 | 第10-11页 |
| ·研究目标及主要工作 | 第11页 |
| ·本论文的研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 功耗建模方法 | 第13-23页 |
| ·CMOS 电路功耗 | 第13-15页 |
| ·静态功耗 | 第13-14页 |
| ·动态功耗 | 第14-15页 |
| ·集成电路功耗影响因素 | 第15-17页 |
| ·综合工具对功耗的影响 | 第15-16页 |
| ·代码风格对动态功耗的影响 | 第16-17页 |
| ·集成电路功耗建模方法 | 第17-21页 |
| ·系统级功耗分析 | 第19-21页 |
| ·算法级功耗分析 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 FPGA 静态和动态功耗宏模型 | 第23-39页 |
| ·集成电路宏模型 | 第23-26页 |
| ·宏模型 | 第23-25页 |
| ·构建宏模型方法 | 第25-26页 |
| ·FPGA 功耗宏模型 | 第26-30页 |
| ·Saber 功耗模型 | 第30-34页 |
| ·Saber 概述 | 第30-31页 |
| ·MAST 语言 | 第31-32页 |
| ·Saber 建模 | 第32-34页 |
| ·解析 VCD 和 Netlist 文件 | 第34-36页 |
| ·功耗模型分析 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 FPGARC 热模型及 HotSpot 软件仿真 | 第39-49页 |
| ·RC 热模型 | 第39-41页 |
| ·HotSpot 软件仿真 | 第41-47页 |
| ·HotSpot5.0 的简介 | 第41-43页 |
| ·HotSpot 热点仿真 | 第43-47页 |
| ·仿真结果分析 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 基于 STM32 电流检测的板级测试 | 第49-55页 |
| ·STM32 电流检测原理 | 第49-51页 |
| ·高边电流检测 | 第49-50页 |
| ·STM32 工作原理及特点 | 第50-51页 |
| ·基于 STM32 的 FPGA 电流检测 | 第51-53页 |
| ·测试结果分析 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·总结 | 第55页 |
| ·展望 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第62-63页 |