单粒子翻转效应的模拟和验证技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| ·课题研究背景 | 第14-16页 |
| ·课题研究现状 | 第16-18页 |
| ·国外研究成果 | 第16-17页 |
| ·国内研究成果 | 第17-18页 |
| ·课题研究内容 | 第18-19页 |
| ·论文结构 | 第19-20页 |
| 第二章 单粒子翻转的理论研究 | 第20-33页 |
| ·单粒子效应的产生机理 | 第21-23页 |
| ·单粒子翻转的产生 | 第23-25页 |
| ·存储单元内产生的单粒子翻转 | 第23-24页 |
| ·输入端锁存产生的单粒子翻转 | 第24-25页 |
| ·单粒子瞬态在组合逻辑电路中的传播 | 第25-32页 |
| ·掩蔽效应 | 第26-27页 |
| ·传播导致的脉冲展宽效应 | 第27-28页 |
| ·基于二维查找表的传播后 SET 脉宽预测 | 第28-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 单粒子翻转的模拟方法 | 第33-39页 |
| ·基于系统级的模拟 | 第33-34页 |
| ·计算错误传播概率的软错误评估 | 第34页 |
| ·基于器件级的仿真 | 第34-35页 |
| ·基于晶体管的电路级仿真 | 第35-36页 |
| ·基于器件-电路级的混合仿真 | 第36页 |
| ·基于基本逻辑门的电路级模拟 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 单粒子翻转的门级建模方法 | 第39-51页 |
| ·Bit-Flip 模型 | 第39-40页 |
| ·基于基本逻辑门的电路级建模 | 第40-50页 |
| ·模型的功能设计 | 第40-42页 |
| ·模型的设计实现 | 第42-46页 |
| ·模型的仿真验证 | 第46-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 单粒子翻转软件模拟系统 | 第51-71页 |
| ·软件模拟系统的模块划分及功能介绍 | 第51-52页 |
| ·测试电路 | 第52-57页 |
| ·测试向量生成 | 第57-62页 |
| ·系统控制及比较模块 | 第62-65页 |
| ·软件模拟流程与结果 | 第65-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 单粒子翻转硬件（FPGA）模拟系统 | 第71-90页 |
| ·硬件模拟系统的模块划分及功能介绍 | 第71-73页 |
| ·待测电路模块 | 第73-74页 |
| ·系统控制模块 | 第74-82页 |
| ·结果比较模块 | 第82-84页 |
| ·硬件模拟流程与结果 | 第84-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第七章 结论与总结 | 第90-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-100页 |
| 附录 | 第100-101页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第101-102页 |
