首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--大规模集成电路、超大规模集成电路论文

考虑工艺波动的互连功耗分析

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·研究背景第7页
   ·研究意义第7-8页
   ·国内外研究现状第8-9页
   ·本文研究内容第9-11页
第二章 互连及其功耗第11-21页
   ·互连的分类及重要性第11-14页
   ·互连寄生参数第14-17页
     ·互连电阻第14-15页
     ·互连电容第15-16页
     ·互连电感第16-17页
   ·互连等效模型第17-18页
     ·集总模型第17-18页
     ·分布模型第18页
   ·集成电路的功耗第18-19页
     ·动态功耗第19页
     ·静态功耗第19页
     ·短路功耗第19页
   ·互连线功耗第19-20页
   ·本章小结第20-21页
第三章 工艺波动对互连寄生参数的影响第21-31页
   ·工艺波动第21-26页
     ·器件工艺波动第23-24页
     ·互连工艺波动第24-25页
     ·特征尺寸减小对工艺波动的影响第25-26页
   ·蒙特卡罗(Monte Carlo)方法第26-29页
     ·基本思想第27-28页
     ·随机变量的正态分布第28-29页
     ·HSPICE 中的蒙特卡罗分析第29页
   ·互连工艺波动对寄生参数的影响第29-30页
   ·本章小结第30-31页
第四章 考虑工艺波动的RC 互连功耗建模与仿真第31-43页
   ·考虑工艺波动的 RC 互连功耗模型第31页
   ·模型的建立第31-38页
     ·工艺波动对互连寄生参数的影响第31-33页
     ·考虑工艺波动的矩的生成第33-36页
     ·RC 互连树统计功耗模型第36-38页
   ·仿真结果与讨论第38-41页
   ·本章小结第41-43页
第五章 考虑工艺波动的RLC 互连功耗建模与仿真第43-57页
   ·考虑工艺波动的 RLC 互连功耗模型第43页
   ·模型的建立第43-51页
     ·工艺波动对互连寄生参数的影响第43-45页
     ·考虑工艺波动的等效互连寄生参数的生成第45-49页
     ·RLC 互连树统计功耗模型第49-51页
   ·仿真结果与讨论第51-55页
   ·本章小结第55-57页
第六章 结束语第57-59页
致谢第59-61页
参考文献第61-64页
研究成果第64-65页

论文共65页,点击 下载论文
上一篇:基于FPGA的数字合路算法的研究和实现
下一篇:应变SiGe PMOSFET制造工艺与热载流子效应研究