首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--材料论文

AlN/Si异质结构材料的生长与研究

摘要第1-5页
英文摘要第5-8页
第一章 绪论第8-16页
   ·引言第8页
   ·AlN材料第8-12页
     ·AlN晶体结构与特性第9页
     ·AlN材料的制备第9-10页
     ·AlN材料的应用第10-12页
   ·Si(111)衬底上AlN异质外延的难点第12-14页
   ·论文的主要工作第14页
   ·本章小结第14-15页
 参考文献第15-16页
第二章 复合CVD生长系统第16-27页
   ·CVD外延生长原理第16-17页
   ·CVD材料生长设备的建设第17-25页
     ·CVD生长设备结构简介第17-19页
     ·MO源和载气气路的引入第19-21页
     ·Al有机源气路的单独引入第21页
     ·U形连接在气路中的运用第21-25页
     ·复合型CVD材料生长系统的优点第25页
   ·复合型CVD材料生长设备的初步调试第25页
   ·本章小结第25-26页
 参考文献第26-27页
第三章 Si(111)衬底AlN薄膜的生长研究第27-43页
   ·引言第27页
   ·AlN/Si(111)结构材料的成核层生长第27-34页
     ·带成核层的AlN/Si结构的生长第28-29页
     ·SEM形貌第29-30页
     ·拉曼散射谱第30-34页
   ·AlN/Si(111)结构的外延生长参数第34-40页
     ·直接外延的AlN/Si(111)结构的生长第34页
     ·SEM形貌第34-36页
     ·拉曼散射谱第36-39页
     ·Si衬底表面H_2处理方式对AlN薄膜质量的影响第39页
     ·CL谱第39-40页
   ·本章小结第40-42页
 参考文献第42-43页
第四章 SiC/Si(111)复合衬底的生长第43-54页
   ·引言第43-45页
     ·SiC晶体结构与特性第43-44页
     ·SiC材料作为衬底和缓冲层的应用第44页
     ·SiC用作Si(111)上AlN外延生长缓冲层的可行性第44-45页
   ·SiC/Si(111)复合衬底的制备和表征第45-48页
     ·SiC/Si复合衬底制备流程第45-46页
     ·SiC/Si复合衬底的SEM形貌第46-47页
     ·SiC/Si复合衬底的XRD谱第47-48页
   ·SiC/Si复合衬底的平面EDS表征第48-52页
     ·平面EDS法修正原理第48-51页
     ·SiC/Si复合衬底的修正EDS结果和评价第51-52页
   ·本章小结第52-53页
 参考文献第53-54页
结论第54-55页
致谢第55-56页
攻读硕士期间发表论文和申请专利目录第56-57页

论文共57页,点击 下载论文
上一篇:铁电半导体BaTi1-xNbxO3阻变效应以及铁磁半导体FeSi1-xGex磁性和输运性质的研究
下一篇:应变Si/SiGe/Si异质结材料的生长研究