| 表目录 | 第1-9页 |
| 图目录 | 第9-11页 |
| 摘要 | 第11-13页 |
| Abstract | 第13-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-31页 |
| ·研究背景 | 第15-19页 |
| ·系统级软错误可靠性分析方法概述 | 第19-22页 |
| ·错误模型 | 第19页 |
| ·难点分析 | 第19-20页 |
| ·分类及概况 | 第20-22页 |
| ·相关研究工作及存在的问题 | 第22-28页 |
| ·相关研究工作 | 第22-27页 |
| ·存在的问题 | 第27-28页 |
| ·研究目标 | 第28页 |
| ·主要研究工作与研究成果 | 第28-30页 |
| ·论文结构 | 第30-31页 |
| 第二章 背景 | 第31-39页 |
| ·时序电路基础 | 第31页 |
| ·等价性检查技术 | 第31-35页 |
| ·等价性检查分类 | 第32-33页 |
| ·相关等价性检查技术 | 第33-35页 |
| ·马尔科夫过程与马尔科夫链 | 第35-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基于时序等价性检查的软错误敏感点筛选方法 | 第39-49页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·故障时序传播依赖图 | 第40-41页 |
| ·软错误敏感点筛选算法 | 第41-45页 |
| ·基本思想与计算模型的构建 | 第41-43页 |
| ·算法流程 | 第43-44页 |
| ·实例分析 | 第44-45页 |
| ·实验结果 | 第45-48页 |
| ·实验一 | 第46-47页 |
| ·实验二 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 时序电路软错误免疫力分析 | 第49-61页 |
| ·引言 | 第49-50页 |
| ·实验分析 | 第50-53页 |
| ·实验方法 | 第50-51页 |
| ·实验结果 | 第51-53页 |
| ·理论分析 | 第53-58页 |
| ·基本概念 | 第54-55页 |
| ·理论推导 | 第55-57页 |
| ·相关结论 | 第57-58页 |
| ·讨论 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 基于时序等价性检查的时序单元软错误可靠性排序 | 第61-87页 |
| ·引言 | 第61-62页 |
| ·基本思想 | 第62-63页 |
| ·脆弱状态集的计算 | 第63-69页 |
| ·计算模型 | 第63-64页 |
| ·算法流程 | 第64-66页 |
| ·例子 | 第66-68页 |
| ·理论基础 | 第68-69页 |
| ·脆弱状态脆弱因子的计算 | 第69-75页 |
| ·电路模型构建 | 第69-71页 |
| ·基于马尔科夫链理论的VSVF 计算方法 | 第71-73页 |
| ·优化技术 | 第73-75页 |
| ·状态空间分布向量的计算 | 第75-77页 |
| ·时序单元软错误可靠性排序方法 | 第77-81页 |
| ·运行时软错误可靠性排序方法 | 第77-80页 |
| ·近似的软错误可靠性排序方法 | 第80-81页 |
| ·实验 | 第81-85页 |
| ·错误覆盖率的获取 | 第81-82页 |
| ·实验一 | 第82-84页 |
| ·实验二 | 第84-85页 |
| ·本章小结 | 第85-87页 |
| 第六章 基于二维分解的高层时序等价性检查 | 第87-97页 |
| ·引言 | 第87-88页 |
| ·分解技术 | 第88-90页 |
| ·面向等价性检查的程序切片 | 第88-89页 |
| ·层次化逻辑割点插入 | 第89-90页 |
| ·二维分解时序等价性检查算法 | 第90-94页 |
| ·逻辑割点的选择 | 第91页 |
| ·算法 | 第91-92页 |
| ·例子 | 第92-94页 |
| ·实验结果 | 第94-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 第七章 系统级软错误可靠性分析框架 | 第97-113页 |
| ·SEC-HSERA 框架简介 | 第97-98页 |
| ·用户需求配置文件 | 第98-99页 |
| ·Verilog 编译器 | 第99-101页 |
| ·中间代码组织 | 第100页 |
| ·主要的类 | 第100-101页 |
| ·软错误可靠性分析模块 | 第101-103页 |
| ·时序等价性检查模块 | 第103-106页 |
| ·基于SAT 的时序等价性检查 | 第103-105页 |
| ·基于PBJ 的时序等价性检查 | 第105-106页 |
| ·二维分解指导模块 | 第106页 |
| ·SEC-HSERA 使用说明 | 第106-107页 |
| ·分析实例 | 第107-111页 |
| ·本章小结 | 第111-113页 |
| 第八章 结束语 | 第113-117页 |
| ·工作总结 | 第113-115页 |
| ·工作展望 | 第115-117页 |
| 致谢 | 第117-119页 |
| 参考文献 | 第119-127页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第127-129页 |
| 附录A 软错误脆弱度计算示例 | 第129-138页 |
| A.1 电路s27 分析过程示例 | 第129-133页 |
| A.2 电路 SBA2 分析过程示例 | 第133-138页 |