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基于良率分析的电路优化方法探究

摘要第3-4页
abstract第4-5页
第1章 引言第8-15页
    1.1 工艺浮动第8-11页
        1.1.1 前道工序工艺浮动第9-10页
        1.1.2 后道工序工艺浮动第10-11页
    1.2 良率问题来源第11-15页
第2章 研究框架第15-22页
    2.1 问题分析第15-17页
    2.2 研究方案第17-19页
    2.3 实验电路第19-22页
第3章 电路混合性能模型构建与优化第22-38页
    3.1 本章引论第22-23页
    3.2 模型基本假设第23-24页
    3.3 仿真数据采样第24-25页
        3.3.1 分层采样第24-25页
        3.3.2 拉丁超立方采样第25页
    3.4 基本模型构建第25-28页
        3.4.1 算法选择第25-26页
        3.4.2 弹性网模型第26-27页
        3.4.3 交叉验证第27-28页
    3.5 模型优化方法第28-33页
        3.5.1 迭代建模法第29-30页
        3.5.2 本地补偿法第30-33页
    3.6 实验验证第33-38页
        3.6.1 建模总体流程第33-34页
        3.6.2 交叉验证示意第34-35页
        3.6.3 测试结果第35-38页
第4章 电路良率计算方法与优化第38-51页
    4.1 本章引论第38页
    4.2 良率计算基本方法第38-40页
        4.2.1 蒙特卡洛方法第39-40页
        4.2.2 计算方法实现第40页
    4.3 计算方法优化第40-45页
        4.3.1 重要性采样第41-42页
        4.3.2 变换概率密度函数第42-43页
        4.3.3 求解最优均值偏移向量第43-45页
        4.3.4 优化方法实现第45页
    4.4 实验验证第45-51页
        4.4.1 实验流程概述第46-47页
        4.4.2 计算精度第47-49页
        4.4.3 良率优化第49-51页
第5章 结论与展望第51-54页
参考文献第54-57页
致谢第57-59页
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果第59页

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