基于良率分析的电路优化方法探究
摘要 | 第3-4页 |
abstract | 第4-5页 |
第1章 引言 | 第8-15页 |
1.1 工艺浮动 | 第8-11页 |
1.1.1 前道工序工艺浮动 | 第9-10页 |
1.1.2 后道工序工艺浮动 | 第10-11页 |
1.2 良率问题来源 | 第11-15页 |
第2章 研究框架 | 第15-22页 |
2.1 问题分析 | 第15-17页 |
2.2 研究方案 | 第17-19页 |
2.3 实验电路 | 第19-22页 |
第3章 电路混合性能模型构建与优化 | 第22-38页 |
3.1 本章引论 | 第22-23页 |
3.2 模型基本假设 | 第23-24页 |
3.3 仿真数据采样 | 第24-25页 |
3.3.1 分层采样 | 第24-25页 |
3.3.2 拉丁超立方采样 | 第25页 |
3.4 基本模型构建 | 第25-28页 |
3.4.1 算法选择 | 第25-26页 |
3.4.2 弹性网模型 | 第26-27页 |
3.4.3 交叉验证 | 第27-28页 |
3.5 模型优化方法 | 第28-33页 |
3.5.1 迭代建模法 | 第29-30页 |
3.5.2 本地补偿法 | 第30-33页 |
3.6 实验验证 | 第33-38页 |
3.6.1 建模总体流程 | 第33-34页 |
3.6.2 交叉验证示意 | 第34-35页 |
3.6.3 测试结果 | 第35-38页 |
第4章 电路良率计算方法与优化 | 第38-51页 |
4.1 本章引论 | 第38页 |
4.2 良率计算基本方法 | 第38-40页 |
4.2.1 蒙特卡洛方法 | 第39-40页 |
4.2.2 计算方法实现 | 第40页 |
4.3 计算方法优化 | 第40-45页 |
4.3.1 重要性采样 | 第41-42页 |
4.3.2 变换概率密度函数 | 第42-43页 |
4.3.3 求解最优均值偏移向量 | 第43-45页 |
4.3.4 优化方法实现 | 第45页 |
4.4 实验验证 | 第45-51页 |
4.4.1 实验流程概述 | 第46-47页 |
4.4.2 计算精度 | 第47-49页 |
4.4.3 良率优化 | 第49-51页 |
第5章 结论与展望 | 第51-54页 |
参考文献 | 第54-57页 |
致谢 | 第57-59页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第59页 |