布尔过程与波形模拟器
| 独创性声明 | 第1页 |
| 关于论文使用授权的说明 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 概述 | 第10-20页 |
| ·本文的研究背景 | 第10-11页 |
| ·集成电路设计与测试 | 第11-13页 |
| ·布尔过程 | 第13-14页 |
| ·基于布尔过程的波形模拟器 | 第14-16页 |
| ·一个波形模拟器应用实例 | 第16-18页 |
| ·本文的主要贡献及结构安排 | 第18-20页 |
| 第二章 集成电路设计与测试 | 第20-49页 |
| ·集成电路设计 | 第20-27页 |
| ·自动测试产生 | 第27-36页 |
| ·可测性设计 | 第36-43页 |
| ·内建自测试 | 第43-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第三章 布尔过程 | 第49-62页 |
| ·布尔过程的提出 | 第49-50页 |
| ·布尔过程论 | 第50-52页 |
| ·波形及其特性 | 第52-56页 |
| ·波形多项式及其性质 | 第56-59页 |
| ·布尔过程的应用 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第四章 基本逻辑门参数 | 第62-71页 |
| ·门级延时模型 | 第62-63页 |
| ·基本逻辑门的电路模型 | 第63-65页 |
| ·基本逻辑门参数 | 第65-68页 |
| ·影响逻辑门延时的主要因素 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 基于布尔过程的波形模拟器 | 第71-85页 |
| ·电路模拟器回顾 | 第71-72页 |
| ·无反馈电路模拟 | 第72-77页 |
| ·有反馈电路模拟 | 第77-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 模拟精度与速度比较 | 第85-92页 |
| ·评价方法 | 第85-86页 |
| ·电路转换 | 第86-87页 |
| ·精度与速度比较 | 第87-88页 |
| ·一个更有效的延时模型 | 第88-90页 |
| ·本章小结 | 第90-92页 |
| 第七章 一个波形模拟器应用实例 | 第92-105页 |
| ·一个使用压缩测试向量的 BIST方案 | 第92-100页 |
| ·自测试阶段的最大功耗估计 | 第100-103页 |
| ·本章小结 | 第103-105页 |
| 第八章 总结 | 第105-108页 |
| 参考文献 | 第108-119页 |
| 致谢 | 第119-120页 |
| 作者简历 | 第120-121页 |
| 作者在攻读博士学位期间发表论文目录 | 第121页 |
