多参数智能电子测试仪的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·本课题的来源、目的及意义 | 第9-10页 |
| ·多参数智能电子测试仪国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·本课题的研究内容和方法 | 第13-14页 |
| 2 测试系统总体设计 | 第14-24页 |
| ·被测对象的特点、测试要求 | 第14-15页 |
| ·被测信号特点 | 第14-15页 |
| ·测试系统需满足的测试要求 | 第15页 |
| ·测试系统的总体设计 | 第15-21页 |
| ·存储测试理论 | 第15-16页 |
| ·测试系统中的信息流 | 第16页 |
| ·存储测试技术中的采样策略 | 第16-18页 |
| ·状态设计 | 第18-21页 |
| ·存储测试系统中信息的存储记录 | 第21-24页 |
| ·存储子系统的特点和结构 | 第21-22页 |
| ·信号记录方式 | 第22-24页 |
| 3 多参数智能电子测试仪的总体设计 | 第24-37页 |
| ·系统总体框图 | 第24页 |
| ·系统关键器件及工作时序 | 第24-26页 |
| ·A/D转换器AD7492 | 第24-25页 |
| ·微功耗CPLD | 第25-26页 |
| ·系统模拟适配电路的设计 | 第26-33页 |
| ·压电传感器 | 第27-31页 |
| ·压阻传感器 | 第31-33页 |
| ·模拟滤波电路的设计 | 第33-37页 |
| 4 系统控制部分设计 | 第37-50页 |
| ·控制部分框图 | 第37页 |
| ·模块设计 | 第37-50页 |
| ·编程模块和读数模块 | 第38-40页 |
| ·采样频率产生模块 | 第40-42页 |
| ·AD读,存储器写模块 | 第42页 |
| ·地址产生模块 | 第42-43页 |
| ·触发和负延迟模块 | 第43-47页 |
| ·采样状态信号产生模块 | 第47-48页 |
| ·并串转换模块 | 第48-50页 |
| 5 测试系统的可靠性研究 | 第50-65页 |
| ·关键芯片的抗高冲击试验 | 第50-52页 |
| ·测试原理 | 第50-51页 |
| ·CPLD抗冲击试验 | 第51-52页 |
| ·微功耗设计 | 第52-56页 |
| ·电源可靠性研究 | 第52-55页 |
| ·电源控制 | 第55-56页 |
| ·抗恶劣环境设计 | 第56-59页 |
| ·电路模块的高低温冲击实验 | 第56页 |
| ·IEC推荐的环境应力 | 第56-57页 |
| ·国军标(GJB1032-90)推荐的环境应力 | 第57-58页 |
| ·多参数智能电子测试系统电路模块的热冲击试验 | 第58-59页 |
| ·缓冲技术 | 第59-61页 |
| ·测试系统的精度研究 | 第61-65页 |
| ·测试系统的标定 | 第61-63页 |
| ·测试装置的精度试验 | 第63-65页 |
| 6 系统仿真与实验 | 第65-69页 |
| ·测试仪实物图 | 第65页 |
| ·采样频率和采样策略验证实验 | 第65-67页 |
| ·多次重触发验证实验 | 第67-69页 |
| 7 总结与展望 | 第69-71页 |
| ·全文总结 | 第69页 |
| ·本文的创新点和不足 | 第69页 |
| ·前景展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研工作 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
