MEMS惯性传感器并行测试数据的采集系统设计与降噪处理方法
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
1.1 课题背景 | 第9页 |
1.2 课题研究的目的和意义 | 第9-11页 |
1.3 MEMS测试相关研究现状 | 第11-13页 |
1.3.1 MEMS惯性传感器发展历史 | 第11页 |
1.3.2 MEMS惯性传感器测试标定方法 | 第11-13页 |
1.4 本文的主要研究内容 | 第13-14页 |
第2章 MEMS并行测试系统设计 | 第14-33页 |
2.1 系统需求分析 | 第14-15页 |
2.2 并行测试系统结构设计 | 第15-17页 |
2.2.1 数据采集功能设计 | 第15页 |
2.2.2 数据传输功能设计 | 第15-16页 |
2.2.3 系统整体结构功能 | 第16-17页 |
2.3 数据采集功能电路设计 | 第17-23页 |
2.3.1 ADC内部配置 | 第17-20页 |
2.3.2 ADC外围主要电路设计 | 第20-23页 |
2.3.2.1 复位电路 | 第20页 |
2.3.2.2 差分输入电路 | 第20-21页 |
2.3.2.3 模数隔离电路 | 第21-23页 |
2.4 数据传输功能电路设计 | 第23-27页 |
2.4.1 器件选型 | 第23-24页 |
2.4.2 器件连接原理 | 第24-25页 |
2.4.3 CY7C68013芯片主要外部电路 | 第25-27页 |
2.5 电源电路设计 | 第27-28页 |
2.6 PCB板绘制注意事项 | 第28-29页 |
2.7 FPGA逻辑的Verilog实现 | 第29-31页 |
2.8 CY7C68013主要寄存器配置 | 第31页 |
2.9 本章小结 | 第31-33页 |
第3章 采集系统噪声源分析与建模 | 第33-50页 |
3.1 噪声的描述与叠加规则 | 第33-34页 |
3.1.1 噪声的数学描述 | 第33-34页 |
3.1.2 噪声的相关性与叠加性 | 第34页 |
3.2 运放噪声 | 第34-39页 |
3.2.1 电阻热噪声 | 第34-35页 |
3.2.2 1/f噪声 | 第35-36页 |
3.2.3 运放输出噪声电压 | 第36-39页 |
3.3 电源纹波与噪声 | 第39-42页 |
3.3.1 电源纹波 | 第39-40页 |
3.3.2 电源噪声 | 第40-42页 |
3.4 ADC噪声 | 第42-49页 |
3.4.1 相位误差噪声 | 第42-44页 |
3.4.2 开关噪声 | 第44-46页 |
3.4.3 量化噪声 | 第46-48页 |
3.4.4 数字输出噪声滤波 | 第48-49页 |
3.5 本章小结 | 第49-50页 |
第4章 基于小波变换的去噪方法 | 第50-66页 |
4.1 小波变换基本理论 | 第50-53页 |
4.1.1 小波函数的形式 | 第50-51页 |
4.1.2 连续小波变换 | 第51-52页 |
4.1.3 离散小波变换 | 第52-53页 |
4.2 多分辨率分析 | 第53-56页 |
4.2.1 基于Shannon函数的多分辨率分析 | 第53-54页 |
4.2.2 多分辨率分析的滤波器形式 | 第54-55页 |
4.2.3 双尺度方程 | 第55-56页 |
4.3 基于Mallat算法的小波分解与重构 | 第56-59页 |
4.3.1 小波分解 | 第56-58页 |
4.3.2 小波重构 | 第58-59页 |
4.4 小波阈值去噪 | 第59-65页 |
4.4.1 小波基的选择 | 第59-60页 |
4.4.2 分解层数选择 | 第60-62页 |
4.4.3 阈值选取 | 第62页 |
4.4.4 阈值函数 | 第62页 |
4.4.5 结果分析 | 第62-65页 |
4.5 本章小结 | 第65-66页 |
结论 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
致谢 | 第71页 |