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PBGA封装的工艺过程力学及其热可靠性分析

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第9-15页
    1.1 课题的目的和意义第9-10页
    1.2 PBGA 封装简介第10-11页
    1.3 国内外技术发展与研究现状第11-14页
    1.4 本文的主要研究工作第14-15页
2 有限元基本理论第15-20页
    2.1 有限元法简介第15-16页
    2.2 基于有限元法的热应力问题解第16-18页
    2.3 焊球疲劳寿命预测方法第18-19页
    2.4 本章总结第19-20页
3 PBGA 关键工艺过程力学研究第20-36页
    3.1 引言第20页
    3.2 贴片工艺第20-29页
    3.3 塑封工艺第29-35页
    3.4 本章总结第35-36页
4 PBGA 封装产品热机械可靠性研究第36-47页
    4.1 引言第36-37页
    4.2 温度循环可靠性分析第37-40页
    4.3 试验设计(DOE)第40-43页
    4.4 焊球阵列形式比较第43-44页
    4.5 环境稳定性可靠性分析第44-46页
    4.6 本章总结第46-47页
5 总结和展望第47-49页
    5.1 全文总结第47-48页
    5.2 未来工作的展望第48-49页
致谢第49-50页
参考文献第50-56页
附录 攻读硕士学位期间发表的论文第56页

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