| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·芯片验证技术概况 | 第7-9页 |
| ·研究此课题的目的与意义 | 第9页 |
| ·课题来源 | 第9页 |
| ·论文结构 | 第9-11页 |
| 第二章 EOS芯片和MAC模块介绍 | 第11-20页 |
| ·EOS技术介绍 | 第11-16页 |
| ·EOS芯片功能介绍 | 第16-17页 |
| ·MAC模块介绍 | 第17-20页 |
| 第三章 功能验证 | 第20-64页 |
| ·功能验证技术概述 | 第20页 |
| ·功能验证方法 | 第20-24页 |
| ·功能验证的策略 | 第24-25页 |
| ·验证语言和验证工具 | 第25-26页 |
| ·EOS芯片MAC子模块验证 | 第26-64页 |
| 第四章 静态时序验证 | 第64-77页 |
| ·STA技术简介 | 第64页 |
| ·STA的重要概念 | 第64-68页 |
| ·STA工具简介 | 第68-71页 |
| ·使用PT进行时序分析 | 第71-76页 |
| ·验证结果 | 第76-77页 |
| 第五章 形式验证 | 第77-84页 |
| ·基本原理和方法 | 第77-78页 |
| ·形式验证工具Formality | 第78-79页 |
| ·形式验证脚本 | 第79-81页 |
| ·结果分析 | 第81-82页 |
| ·常见问题 | 第82-84页 |
| 第六章 总结 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86页 |