| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 课题来源 | 第17页 |
| 1.4 课题的主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第2章 SoCs 测试相关技术概述 | 第18-27页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 可测性设计理论 | 第18-20页 |
| 2.2.1 可测性的基本概念 | 第18-19页 |
| 2.2.2 可测性设计技术 | 第19-20页 |
| 2.3 ITC’02 测试基准结构 | 第20-23页 |
| 2.3.1 ITC’02 的格式描述 | 第21-22页 |
| 2.3.2 层次式测试结构 | 第22-23页 |
| 2.4 IEEE std 1500 测试标准 | 第23-25页 |
| 2.4.1 IEEE std 1500 原理 | 第23-24页 |
| 2.4.2 硬件实现结构 | 第24-25页 |
| 2.5 SoCs 测试理论基础 | 第25-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 SoCs 测试体系构建 | 第27-37页 |
| 3.1 引言 | 第27页 |
| 3.2 测试体系结构框架 | 第27-35页 |
| 3.2.1 测试封装结构 | 第27-31页 |
| 3.2.2 测试访问机制 TAM | 第31-34页 |
| 3.2.3 测试结构协同优化 | 第34-35页 |
| 3.3 SoCs 测试结构模型构建 | 第35-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 SoCs 测试访问机制的算法设计 | 第37-46页 |
| 4.1 引言 | 第37页 |
| 4.2 SoCs 组式带宽灵活分配 TAM 测试策略 | 第37-39页 |
| 4.3 测试控制逻辑结构 | 第39-45页 |
| 4.3.1 测试控制器设计 | 第39-41页 |
| 4.3.2 基于宏模块的测试调度 | 第41-45页 |
| 4.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 系统仿真与实验结果分析 | 第46-58页 |
| 5.1 引言 | 第46页 |
| 5.2 仿真实验平台 | 第46-47页 |
| 5.3 仿真结果 | 第47-56页 |
| 5.3.1 测试封装结构设计仿真 | 第47-54页 |
| 5.3.2 测试控制器设计仿真 | 第54-56页 |
| 5.4 仿真分析 | 第56-57页 |
| 5.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |