多种资源约束下集成电路芯片最终测试生产调度优化方法研究
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 半导体制造系统的特征 | 第10-11页 |
| 1.3 研究半导体生产调度的现实意义 | 第11-12页 |
| 1.4 本文研究主要内容 | 第12页 |
| 1.5 论文结构及安排 | 第12-14页 |
| 第2章 多种资源约束下的批处理机调度问题介绍 | 第14-23页 |
| 2.1 半导体最终测试阶段生产工艺流程 | 第14-15页 |
| 2.2 资源受限调度问题简介 | 第15页 |
| 2.3 资源受限调度问题相关文献综述 | 第15-16页 |
| 2.4 批处理机调度问题简介 | 第16-18页 |
| 2.5 批处理机调度问题相关文献综述 | 第18-22页 |
| 2.5.1 单批处理机调度问题相关文献综述 | 第18-21页 |
| 2.5.2 多批处理机调度问题相关文献综述 | 第21-22页 |
| 2.6 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 多种资源约束下的单批处理机调度问题研究 | 第23-50页 |
| 3.1 带有附属资源的单批处理机问题介绍 | 第23页 |
| 3.2 问题的数学模型 | 第23-25页 |
| 3.2.1 变量定义 | 第24页 |
| 3.2.2 目标函数和约束条件 | 第24-25页 |
| 3.3 智能优化算法设计 | 第25-37页 |
| 3.3.1 基于随机键的遗传算法 | 第25-30页 |
| 3.3.2 变邻域搜索算法 | 第30-31页 |
| 3.3.3 基于批的插入算法 | 第31-37页 |
| 3.4 仿真实验 | 第37-49页 |
| 3.4.1 实验设计 | 第37-38页 |
| 3.4.2 实验结果分析 | 第38-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 多种资源约束下的平行批处理机调度问题研究 | 第50-65页 |
| 4.1 带有附属资源的平行批处理机问题介绍 | 第50-51页 |
| 4.2 问题的数学模型 | 第51-52页 |
| 4.2.1 变量定义 | 第51-52页 |
| 4.2.2 目标函数和约束条件 | 第52页 |
| 4.3 基于不同方案的批插入算法 | 第52-57页 |
| 4.3.1 基于FBTM的批插入算法 | 第53-56页 |
| 4.3.2 基于FMTB的批插入算法 | 第56-57页 |
| 4.4 仿真实验 | 第57-64页 |
| 4.4.1 实验设计 | 第57-58页 |
| 4.4.2 实验结果分析 | 第58-64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-78页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第78页 |
