退火热处理对碲锌镉材料电阻率的影响
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 1 前言 | 第12-30页 |
| ·碲锌镉材料的应用及发展概况 | 第12-15页 |
| ·碲锌镉晶体材料的基本性质 | 第15页 |
| ·碲锌镉单晶体的生长方法 | 第15-17页 |
| ·碲锌镉晶片的退火热处理 | 第17-21页 |
| ·碲锌镉晶片的电极制备 | 第21-22页 |
| ·碲锌镉室温核辐射探测器的制备 | 第22-28页 |
| ·本文的研究目的和主要内容 | 第28-30页 |
| ·本文的研究目的及意义 | 第28页 |
| ·本文的主要内容 | 第28-30页 |
| 2 碲锌镉晶片退火热处理过程的理论基础与建模计算 | 第30-36页 |
| ·In 在碲锌镉晶片中扩散的理论模型 | 第30-33页 |
| ·半导体扩散方程 | 第30-32页 |
| ·In 在碲锌镉晶片中的扩散过程分析 | 第32页 |
| ·扩散模型的建立 | 第32-33页 |
| ·晶片退火前后电阻率变化的理论计算 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 3 碲锌镉晶片退火热处理的实验过程与结果讨论 | 第36-52页 |
| ·退火热处理的实验过程 | 第36-42页 |
| ·晶体生长 | 第36-37页 |
| ·晶片制备 | 第37-39页 |
| ·退火前准备 | 第39页 |
| ·晶片退火 | 第39-40页 |
| ·电极制备 | 第40-41页 |
| ·电阻测量 | 第41-42页 |
| ·测量结果及讨论 | 第42-51页 |
| ·电阻率的测量 | 第42-43页 |
| ·沉淀物缺陷的检测 | 第43-45页 |
| ·表面腐蚀坑的检测 | 第45-46页 |
| ·红外透过率的检测 | 第46-47页 |
| ·X 射线双晶半峰宽的检测 | 第47-48页 |
| ·扩散系数的拟合 | 第48-50页 |
| ·对于结果的分析讨论 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 4 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·全文总结 | 第52页 |
| ·本课题展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第58页 |
