基于改进遗传算法的电路进化容错修复技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·论文的研究背景与意义 | 第9-10页 |
| ·演化硬件的概念 | 第9页 |
| ·演化硬件的研究背景与意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第10-13页 |
| ·国外研究概况与主要成果 | 第10-12页 |
| ·国内研究概况与主要成果 | 第12-13页 |
| ·研究内容与论文结构 | 第13-15页 |
| 第2章 电路进化基本原理与方法 | 第15-23页 |
| ·电路进化基本原理 | 第15-17页 |
| ·电路进化设计原理 | 第15-16页 |
| ·电路进化实现方法 | 第16-17页 |
| ·电路进化方法研究 | 第17-20页 |
| ·编码方法 | 第17-18页 |
| ·电路进化算法 | 第18-19页 |
| ·适应度评估方法 | 第19-20页 |
| ·电路进化实例分析 | 第20-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 电路进化算法分析 | 第23-33页 |
| ·进化算法概述 | 第23-30页 |
| ·进化算法基本思想 | 第23页 |
| ·遗传算法的基本流程 | 第23-25页 |
| ·遗传算法基本实现技术 | 第25-30页 |
| ·遗传算法分析与比较 | 第30-31页 |
| ·CHC 算法 | 第30页 |
| ·自适应遗传算法 | 第30-31页 |
| ·提高遗传算法搜索效率的途径 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 基于电路进化的改进遗传算法 | 第33-41页 |
| ·改进自适应遗传算法 | 第33-37页 |
| ·遗传概率自适应的必要性 | 第33-34页 |
| ·遗传概率自适应策略 | 第34-35页 |
| ·遗传算子设计 | 第35-36页 |
| ·演化修复算子 | 第36-37页 |
| ·算法运行机理及流程 | 第37-38页 |
| ·算法验证 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第5章 数字电路进化及容错修复实验 | 第41-59页 |
| ·电路进化与修复实验设计 | 第41-47页 |
| ·电路进化模型构建 | 第41-43页 |
| ·染色体编码方式设计 | 第43-44页 |
| ·适应度函数设计 | 第44页 |
| ·实验平台模块结构设计 | 第44-47页 |
| ·测试数据集设计 | 第47页 |
| ·电路进化实验 | 第47-52页 |
| ·一位全加器进化实验 | 第47-50页 |
| ·二位乘法器进化实验 | 第50-52页 |
| ·故障电路修复实验 | 第52-58页 |
| ·修复原理 | 第52-53页 |
| ·修复系统设计 | 第53-55页 |
| ·一位全加器电路修复 | 第55-56页 |
| ·二位乘法器电路修复 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
