摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
·课题背景 | 第9页 |
·国内外研究及发展现状 | 第9-12页 |
·非接触式 IC 卡发展现状 | 第10-11页 |
·非接触式 IC 卡标准发展 | 第11页 |
·非接触式 IC 卡发展方向 | 第11-12页 |
·本文主要研究内容 | 第12-13页 |
·本文结构 | 第13-14页 |
第2章 Mifare 1 非接触式 IC 卡介绍 | 第14-32页 |
·非接触式 IC 卡国际标准 ISO/IEC144436 | 第14-20页 |
·ISO/IEC 14443-1 物理特性 | 第14页 |
·ISO/IEC 14443-2 射频能量和信号接口 | 第14-16页 |
·ISO/IEC 14443-3 初始化和防冲突 | 第16-20页 |
·Mifare1 非接触式 IC 卡技术 | 第20-30页 |
·Mifare 1 卡的技术特点和优点 | 第20-21页 |
·Mifare 1 卡的结构组成 | 第21-22页 |
·Mifare 1 卡的交易流程 | 第22-23页 |
·Mifare 1 卡存储器组织结构及访问条件 | 第23-25页 |
·Mifare 1 卡交易命令及时序 | 第25-30页 |
·本章小结 | 第30-32页 |
第3章 MF1 S50 兼容芯片数字部分设计 | 第32-51页 |
·数字部分结构设计 | 第32-34页 |
·总线设计 | 第34-37页 |
·E 总线设计 | 第34-35页 |
·P 总线设计 | 第35-37页 |
·总线设计合理性分析 | 第37页 |
·数字部分模块设计 | 第37-50页 |
·时钟和复位模块设计 | 第37-39页 |
·ISO/IEC14443A 接口及加密模块设计 | 第39-42页 |
·CRC 校验模块设计 | 第42-44页 |
·随机数处理模块设计 | 第44-45页 |
·中央控制和运算模块 | 第45-48页 |
·EFLASH 及其接口控制模块设计 | 第48-50页 |
·RTL 设计 | 第50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第4章 仿真验证和 FPGA 验证 | 第51-60页 |
·仿真验证 | 第51-54页 |
·仿真工具介绍 | 第51页 |
·仿真验证内容及预期结果 | 第51页 |
·综合布局布线前仿真 | 第51-53页 |
·综合布局布线后仿真 | 第53-54页 |
·功耗分析 | 第54页 |
·仿真验证结果分析 | 第54页 |
·FPGA 原型验证 | 第54-59页 |
·FPGA 原型验证平台介绍 | 第54-55页 |
·FPGA 原型验证内容及预期结果 | 第55-56页 |
·功能验证 | 第56-57页 |
·时序验证 | 第57-59页 |
·FPGA 原型验证结果分析 | 第59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第5章 Mifare 1 卡安全性讨论 | 第60-65页 |
·正确看待 Mifare 1 卡的安全性问题 | 第60-61页 |
·Mifare 1 卡系统安全建议 | 第61-63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
结论 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第71-73页 |
致谢 | 第73页 |