| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 文献综述 | 第10-21页 |
| ·前言 | 第10-11页 |
| ·农产品介电特性基本理论 | 第11-15页 |
| ·介电特性的概念及主要参数 | 第11-13页 |
| ·基于介电特性的果品无损检测的原理 | 第13-15页 |
| ·电特性在农产品检测中的研究及应用现状 | 第15-19页 |
| ·农产品电特性的研究进展 | 第15-17页 |
| ·农产品介电特性无损检测技术研究现状 | 第17-19页 |
| ·本论文的研究目的及主要内容 | 第19-21页 |
| 2. 材料与方法 | 第21-28页 |
| ·苹果介电特性无损检测装置的组成 | 第21-22页 |
| ·主机 | 第21页 |
| ·电特性测量仪 | 第21页 |
| ·屏蔽网 | 第21-22页 |
| ·电极 | 第22页 |
| ·苹果介电特性无损检测装置测量条件的确定 | 第22-24页 |
| ·实验材料 | 第22页 |
| ·电特性测定 | 第22页 |
| ·最佳极板直径的确定 | 第22-23页 |
| ·最佳极板间距的确定 | 第23页 |
| ·最佳测量频率的确定 | 第23页 |
| ·最佳测量电压的确定 | 第23-24页 |
| ·苹果的外形参数与介电特性的相关性研究 | 第24-25页 |
| ·苹果的尺寸参数定义 | 第24页 |
| ·苹果果实外形参数与介电参数测量方法 | 第24-25页 |
| ·苹果果实纵径对介电参数的影响 | 第25页 |
| ·苹果果实横径对介电参数的影响 | 第25页 |
| ·苹果果实体积对介电参数的影响 | 第25页 |
| ·苹果内在品质与介电特性的相关性研究 | 第25-28页 |
| ·材料与处理 | 第25页 |
| ·苹果贮藏期间理化指标及介电参数的测定 | 第25-26页 |
| ·苹果腐烂程度对介电参数的影响 | 第26-27页 |
| ·苹果摔伤程度对介电参数的影响 | 第27页 |
| ·不同程度冷冻处理对介电参数的影响 | 第27-28页 |
| 3. 结果与分析 | 第28-52页 |
| ·最佳测量条件的确立 | 第28-33页 |
| ·最佳极板直径的确定 | 第28-30页 |
| ·最佳极板间距的确定 | 第30-31页 |
| ·最佳测量频率的确定 | 第31-32页 |
| ·最佳测量电压的确定 | 第32-33页 |
| ·苹果果实的外形参数与介电参数的相关性分析 | 第33-36页 |
| ·果实纵径与其介电参数的相关性分析 | 第33-34页 |
| ·果实横径与其介电参数的相关性分析 | 第34-35页 |
| ·果实体积与其介电参数的相关性分析 | 第35-36页 |
| ·苹果果实内在品质与介电参数的相关性分析 | 第36-47页 |
| ·苹果贮藏期理化品质变化与介电参数的相关性分析 | 第36-42页 |
| ·苹果腐烂程度对介电参数的影响分析 | 第42-44页 |
| ·苹果果实摔伤程度对介电参数的影响分析 | 第44-45页 |
| ·不同程度冷冻处理对介电参数的影响分析 | 第45-47页 |
| ·基于介电特性的苹果内部品质无损检测系统数学模型 | 第47-52页 |
| ·建立数学模型的理论分析 | 第47-48页 |
| ·数学模型的推导 | 第48-49页 |
| ·数学模型误差值分析及验证 | 第49-52页 |
| 4. 结论与讨论 | 第52-56页 |
| ·苹果果实介电参数无损检测装置最佳测量条件 | 第52页 |
| ·苹果果实的外形参数与介电参数的相关性 | 第52-53页 |
| ·苹果果实内在品质与介电参数的相关性 | 第53-54页 |
| ·基于介电特性的苹果果实内部品质无损检测系统数学模型 | 第54-56页 |
| 5. 总结与展望 | 第56-58页 |
| ·总结 | 第56-57页 |
| ·展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第63页 |