基于子空间方法的系统辨识在回转窑窑温建模中的应用研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 子空间辨识的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 子空间辨识方法的基本理论 | 第13-36页 |
| 2.1 引言 | 第13-14页 |
| 2.2 线性系统的状态空间描述 | 第14-17页 |
| 2.2.1 过程形式描述 | 第14-16页 |
| 2.2.2 前向新息形式描述 | 第16-17页 |
| 2.3 子空间方法数据矩阵的构造 | 第17-22页 |
| 2.3.1 系统相关的矩阵 | 第19-20页 |
| 2.3.2 数据分块Hankel矩阵 | 第20-22页 |
| 2.4 子空间辨识方法的分析工具 | 第22-26页 |
| 2.4.1 正交投影 | 第22-23页 |
| 2.4.2 斜向投影 | 第23-24页 |
| 2.4.3 QR分解和SVD分解 | 第24-25页 |
| 2.4.4 统计工具 | 第25-26页 |
| 2.5 经典子空间辨识方法 | 第26-32页 |
| 2.5.1 经典算法 | 第26-30页 |
| 2.5.2 经典算法的统一 | 第30-32页 |
| 2.6 子空间辨识方法的基本步骤 | 第32-35页 |
| 2.6.1 使用状态序列X i方法的步骤 | 第32-33页 |
| 2.6.2 使用广义可观测矩阵Γ_i方法的步骤 | 第33-35页 |
| 2.7 本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 基于主成分分析的子空间辨识方法 | 第36-49页 |
| 3.1 主成分分析 | 第36-37页 |
| 3.2 基于主成分分析的子空间辨识方法 | 第37-42页 |
| 3.2.1 Γ_f和H_(f1)~d的估计 | 第38-41页 |
| 3.2.2 系统矩阵的求解 | 第41-42页 |
| 3.3 系统阶次的估计 | 第42-44页 |
| 3.4 主成分分析子空间辨识方法的基本步骤 | 第44-45页 |
| 3.5 仿真实例 | 第45-48页 |
| 3.6 本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 回转窑烧结动态模型的子空间辨识应用 | 第49-59页 |
| 4.1 氧化铝回转窑烧结过程概述 | 第49-50页 |
| 4.2 氧化铝回转窑生产技术现状 | 第50-52页 |
| 4.3 子空间辨识方法在回转窑上的应用 | 第52-58页 |
| 4.3.1 数据的选取 | 第52页 |
| 4.3.2 回转窑热工数据预处理 | 第52-54页 |
| 4.3.3 基于现场数据的回转窑窑温模型辨识 | 第54-56页 |
| 4.3.4 辨识结果的检验与分析 | 第56-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 总结与展望 | 第59-61页 |
| 本文总结 | 第59页 |
| 展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录（攻读学位期间参与项目清单） | 第67页 |
