标记算法芯片中的DFT设计

摘要	第1-4页
ABSTRACT	第4-7页
1 引言	第7-11页
·背景及其意义	第7-8页
·国内外研究现状	第8-9页
·本文的主要内容	第9-11页
2 集成电路可测试性设计方法学	第11-21页
·引言	第11-13页
·DFT 的常用方法	第13-17页
·系统芯片与IP 核	第17-18页
·自动测试设备（ATE）	第18-19页
·集成电路可测试性设计的挑战	第19-20页
·本章小结	第20-21页
3 标记算法芯片的DFT 设计	第21-33页
·标记算法芯片介绍	第21-25页
·DFT 总体结构设计	第25-26页
·内部扫描设计	第26-29页
·边界扫描设计	第29-32页
·本章小结	第32-33页
4 标记算法芯片的BIST 设计	第33-54页
·引言	第33页
·MARCH 算法介绍	第33-38页
·MEMORY BIST 设计	第38-44页
·内建自测试仿真分析	第44-52页
·本章小结	第52-54页
5 总结与展望	第54-57页
·总结	第54-55页
·下一步需要开展的工作	第55页
·展望	第55-57页
致谢	第57-58页
参考文献	第58-62页
附录1 硕士学习期间发表的论文	第62页