单电子器件的蒙特卡罗模拟
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 单电子器件概述 | 第7-22页 |
| ·引言 | 第7-9页 |
| ·微电子技术现状和面临挑战 | 第7-8页 |
| ·本文主要工作介绍 | 第8-9页 |
| ·单电子器件的基本理论 | 第9-14页 |
| ·单电子器件的发展历史 | 第14-16页 |
| ·典型的单电子器件 | 第16-18页 |
| ·单电子盒 | 第16-17页 |
| ·单电子晶体管 | 第17-18页 |
| ·单电子器件的应用 | 第18-22页 |
| ·模拟电路 | 第18-19页 |
| ·数字电路 | 第19-22页 |
| 2 单电子器件的数值模拟方法 | 第22-27页 |
| ·SPICE电路模拟法 | 第22-23页 |
| ·主方程法 | 第23-25页 |
| ·蒙特卡罗法 | 第25-27页 |
| 3 单电子器件的电流—电压特性模拟 | 第27-32页 |
| ·单电子盒的库仑台阶效应 | 第27-28页 |
| ·单电子晶体管 | 第28-32页 |
| ·电流随栅压的变化 | 第29-30页 |
| ·电流随偏压的变化 | 第30-32页 |
| 4 单电子存储器的存储时间特性模拟 | 第32-48页 |
| ·多隧道结单电子存储器 | 第32-36页 |
| ·温度对存储时间的影响 | 第33-34页 |
| ·隧道结电容对存储时间的影响 | 第34-35页 |
| ·隧道结数目对存储时间的影响 | 第35-36页 |
| ·环型单电子存储器 | 第36-40页 |
| ·温度对存储时间的影响 | 第38-39页 |
| ·隧道结电容对存储时间的影响 | 第39-40页 |
| ·隧道结电阻对存储时间的影响 | 第40页 |
| ·对称陷阱型单电子存储器 | 第40-48页 |
| ·温度对存储时间的影响 | 第42-43页 |
| ·隧道结电容对存储时间的影响 | 第43-44页 |
| ·隧道结电阻对存储时间的影响 | 第44-45页 |
| ·电压对饱和电荷和存储时间的影响 | 第45-48页 |
| 5 结论 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |