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单电子器件的蒙特卡罗模拟

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
1 单电子器件概述第7-22页
   ·引言第7-9页
     ·微电子技术现状和面临挑战第7-8页
     ·本文主要工作介绍第8-9页
   ·单电子器件的基本理论第9-14页
   ·单电子器件的发展历史第14-16页
   ·典型的单电子器件第16-18页
     ·单电子盒第16-17页
     ·单电子晶体管第17-18页
   ·单电子器件的应用第18-22页
     ·模拟电路第18-19页
     ·数字电路第19-22页
2 单电子器件的数值模拟方法第22-27页
   ·SPICE电路模拟法第22-23页
   ·主方程法第23-25页
   ·蒙特卡罗法第25-27页
3 单电子器件的电流—电压特性模拟第27-32页
   ·单电子盒的库仑台阶效应第27-28页
   ·单电子晶体管第28-32页
     ·电流随栅压的变化第29-30页
     ·电流随偏压的变化第30-32页
4 单电子存储器的存储时间特性模拟第32-48页
   ·多隧道结单电子存储器第32-36页
     ·温度对存储时间的影响第33-34页
     ·隧道结电容对存储时间的影响第34-35页
     ·隧道结数目对存储时间的影响第35-36页
   ·环型单电子存储器第36-40页
     ·温度对存储时间的影响第38-39页
     ·隧道结电容对存储时间的影响第39-40页
     ·隧道结电阻对存储时间的影响第40页
   ·对称陷阱型单电子存储器第40-48页
     ·温度对存储时间的影响第42-43页
     ·隧道结电容对存储时间的影响第43-44页
     ·隧道结电阻对存储时间的影响第44-45页
     ·电压对饱和电荷和存储时间的影响第45-48页
5 结论第48-49页
致谢第49-50页
参考文献第50-53页

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