| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·过程层析成像技术简介 | 第8-9页 |
| ·电容层析成像技术 | 第9-10页 |
| ·电容层析成像技术简介 | 第9页 |
| ·ECT 应用实例及目前存在的问题 | 第9-10页 |
| ·本文主要工作 | 第10-11页 |
| ·本论文的组织 | 第11-12页 |
| 第二章 已构建的电容层析成像系统 | 第12-20页 |
| ·ECT 系统电容传感器 | 第12页 |
| ·ECT 敏感场的数学描述 | 第12-13页 |
| ·正问题有限元求解 | 第13-14页 |
| ·ECT 逆问题及图像重建算法 | 第14-15页 |
| ·软硬件系统存在的问题 | 第15-20页 |
| ·通道一致性问题 | 第18-19页 |
| ·信号线干扰问题 | 第19-20页 |
| 第三章 软硬件系统的优化设计 | 第20-40页 |
| ·DIRECTDRAW 技术在ECT 系统中的应用 | 第20-23页 |
| ·激励与采集算法优化 | 第23-25页 |
| ·通道一致性问题 | 第25-28页 |
| ·信号线电磁屏蔽 | 第28页 |
| ·数字化电容层析成像系统设计 | 第28-40页 |
| ·TM5320C6201/6701 | 第30-33页 |
| ·EP1C6T144 | 第33-35页 |
| ·高速模数转换芯片AD9224 | 第35-36页 |
| ·数字式ECT系统性能 | 第36-40页 |
| 第四章 基于MC33794 的电容层析成像系统设计 | 第40-55页 |
| ·电场成像器件MC33794 简介 | 第40-43页 |
| ·基于MC33794的ECT系统设计 | 第43-45页 |
| ·阵列电极结构参数优化 | 第45-52页 |
| ·优化指标 | 第45-47页 |
| ·阵列电极结构参数优化 | 第47-52页 |
| ·性能测试 | 第52-55页 |
| ·静态性能测试 | 第52-54页 |
| ·系统空间分辨率测试 | 第52-53页 |
| ·物体成像实验 | 第53页 |
| ·模拟流型成像实验 | 第53-54页 |
| ·实验结果分析 | 第54页 |
| ·动态性能测试 | 第54-55页 |
| 第五章 结论及建议 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |