基于IP核测试的测试生成研究与仿真设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题来源及其研究背景及意义 | 第9-11页 |
| ·课题来源 | 第9页 |
| ·研究背景及其研究意义 | 第9-11页 |
| ·目前国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第12-13页 |
| 第2章 片上系统SOC 测试相关的理论 | 第13-22页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·SOC 测试 | 第13页 |
| ·SOC 测试的一般过程 | 第13-14页 |
| ·SOC 测试的瓶颈 | 第14-15页 |
| ·故障模型 | 第15-16页 |
| ·自动测试向量生成 | 第16-21页 |
| ·组合电路的测试生成 | 第16-20页 |
| ·时序电路测试生成 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 SOC 测试数据的编码压缩技术 | 第22-29页 |
| ·测试数据压缩的基本原理 | 第22-23页 |
| ·测试对测试数据的要求 | 第23-24页 |
| ·测试数据编码压缩技术 | 第24页 |
| ·基于游程编码的压缩技术 | 第24-27页 |
| ·Golomb 编码 | 第25-26页 |
| ·FDR 编码 | 第26-27页 |
| ·Golomb 编码压缩的实现 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第4章 基于IP 核的SOC 测试向量的生成 | 第29-41页 |
| ·引言 | 第29-34页 |
| ·IEEE P1500 内核测试壳结构 | 第29-32页 |
| ·测试壳的加装 | 第32-34页 |
| ·向量映射 | 第34-40页 |
| ·测试图形 | 第35-37页 |
| ·向量映射的描述 | 第37-39页 |
| ·向量映射的验证 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第5章 基于FPGA 的仿真模型的设计及验证 | 第41-49页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·FPGA 测试平台 | 第41-42页 |
| ·测试仿真模型的设计 | 第42-44页 |
| ·基于ITC’02 基准电路的测试实例 | 第44-46页 |
| ·测试仿真模型的验证 | 第46-48页 |
| ·仿真激励 | 第46-47页 |
| ·结果验证 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
