| 摘要 | 第4-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| Acknowledgement | 第9-14页 |
| Nomenclature | 第14-16页 |
| Chapter 1 Introduction | 第16-22页 |
| 1.1 The Problem of IC Overbuilding | 第16-17页 |
| 1.2 Related Countermeasures | 第17-18页 |
| 1.3 IC Metering | 第18-19页 |
| 1.4 Motivations and objectives | 第19-20页 |
| 1.5 Organization of the dissertation | 第20-22页 |
| Chapter 2 Literature review | 第22-32页 |
| 2.1 Passive IC metering | 第22-24页 |
| 2.1.1 Passive nonfunctional metering method | 第23页 |
| 2.1.2 Passive functional metering method | 第23-24页 |
| 2.2 Active IC metering | 第24-30页 |
| 2.2.1 Internal active IC metering and attacks | 第25-29页 |
| 2.2.2 External active IC metering | 第29-30页 |
| 2.3 Summary | 第30-32页 |
| Chapter 3 A new active IC metering Technique based on locking scan cells | 第32-43页 |
| 3.1 The preliminaries | 第32-34页 |
| 3.1.1 Asymmetric cryptographic algorithm | 第32-33页 |
| 3.1.2 Scan chain | 第33-34页 |
| 3.2 The proposed IC metering Technique | 第34-39页 |
| 3.2.1 Key generation unit | 第34-35页 |
| 3.2.2 Locking mechanism | 第35-36页 |
| 3.2.3 Controller | 第36-38页 |
| 3.2.4 Working procedure | 第38-39页 |
| 3.3 Analysis and evaluation | 第39-41页 |
| 3.3.1 Analysis of testability | 第39页 |
| 3.3.2 Analysis of security | 第39-41页 |
| 3.3.3 Analysis of overhead | 第41页 |
| 3.4 Summary | 第41-43页 |
| Chapter 4 An Improved Active IC metering Method against Invasive Attacks | 第43-52页 |
| 4.1 Internal active IC metering in [10] | 第43-44页 |
| 4.2 The Proposed Internal Metering Scheme | 第44-48页 |
| 4.2.1 Building the BFSM | 第44-46页 |
| 4.2.2 Adding pseudo reset states | 第46-48页 |
| 4.3 Experiment evaluation and analysis | 第48-50页 |
| 4.4 Summary | 第50-52页 |
| Conclusion | 第52-54页 |
| References | 第54-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第59-60页 |
