摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-19页 |
·GaN 材料及其 HEMT 器件发展 | 第9-12页 |
·GaN 材料的优势 | 第9-10页 |
·AlGaN/GaN 异质结构的优势 | 第10-11页 |
·AlGaN/GaNHEMT 器件的发展情况 | 第11-12页 |
·研究动力 | 第12-13页 |
·研究背景 | 第13-18页 |
·热电子效应 | 第13-14页 |
·逆压电效应 | 第14-18页 |
·本文研究内容及安排 | 第18-19页 |
第二章 AlGaN/GaN HEMT 的工作原理及其制备 | 第19-27页 |
·AlGaN/GaN HEMT 的工作原理 | 第19-20页 |
·AlGaN/GaN 的工艺制备 | 第20-26页 |
·关键工艺步骤及工艺流程 | 第20-22页 |
·工艺流程监测 | 第22-24页 |
·可靠性实验所用 HEMT 器件的直流特性 | 第24-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第三章 阶梯电应力下 AlGaN/GaN HEMT 的可靠性研究 | 第27-41页 |
·阶梯电应力方案设计 | 第27-30页 |
·阶梯电应力可靠性实验结果及分析 | 第30-39页 |
·AlGaN/GaN HEMT 在关态漏阶梯电应力下的可靠性 | 第30-33页 |
·栅阶梯应力下器件可靠性研究 | 第33-36页 |
·开态漏阶梯电应力下器件可靠性 | 第36-39页 |
·阶梯电应力可靠性分析 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第四章 AlGaN/GaN HEMT 在关态恒压应力下的可靠性 | 第41-49页 |
·实验方案设计 | 第41页 |
·关态恒压应力下器件可靠性 | 第41-48页 |
·亚临界电压下关态恒压应力下器件可靠性 | 第41-43页 |
·临界电压条件下关态恒定强场应力测试及其分析 | 第43-48页 |
·关态下恒定强场应力可靠性分析 | 第48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第五章 结束语 | 第49-51页 |
·本文总结 | 第49-50页 |
·展望 | 第50-51页 |
致谢 | 第51-53页 |
参考文献 | 第53-59页 |
攻读硕士期间参加的科研项目 | 第59-60页 |