| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| ·颗粒粒度相关的基本概念 | 第11-12页 |
| ·颗粒粒度的概念 | 第11页 |
| ·颗粒的粒度分布 | 第11-12页 |
| ·颗粒粒度测量的重要性 | 第12页 |
| ·颗粒粒度测量的主要方法介绍 | 第12-16页 |
| ·筛分法 | 第13页 |
| ·显微镜法 | 第13页 |
| ·电感应法 | 第13-14页 |
| ·沉降法 | 第14页 |
| ·光散射法 | 第14-16页 |
| ·光散射法粒度测量的发展与现状 | 第16-18页 |
| ·光散射理论研究的历史 | 第16-17页 |
| ·激光粒度仪的发展与现状 | 第17-18页 |
| ·本论文的背景 | 第18页 |
| ·本论文完成的工作 | 第18-19页 |
| 第2章 激光粒度测试基本原理与测控系统总体设计 | 第19-37页 |
| ·Mie散射理论 | 第19-23页 |
| ·光的散射现象 | 第19页 |
| ·Mie散射理论的基本理论 | 第19-21页 |
| ·Mie散射的近似——夫琅和费衍射 | 第21-23页 |
| ·激光粒度测量装置与原理 | 第23-27页 |
| ·激光粒度测量装置 | 第23页 |
| ·激光粒度仪的测量原理 | 第23-25页 |
| ·颗粒尺寸分段的选取 | 第25-26页 |
| ·激光粒度测量的几个前提条件 | 第26-27页 |
| ·激光粒度仪的总体结构 | 第27-29页 |
| ·激光粒度仪测控系统的总体设计 | 第29-36页 |
| ·测控系统的功能需求 | 第29页 |
| ·模拟信号的采集——A/D转换技术 | 第29-31页 |
| ·微弱电信号放大与多路信号的采集 | 第31-32页 |
| ·单片机选型 | 第32-33页 |
| ·多MCU通信的实现——LIN总线技术 | 第33-34页 |
| ·硬件开发环境 | 第34-35页 |
| ·测控软件需求分析与总体设计 | 第35-36页 |
| ·测控软件开发环境 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 激光粒度仪数据采集器的设计与开发 | 第37-57页 |
| ·数据采集器的功能与结构设计 | 第37-38页 |
| ·数据采集器的功能 | 第37页 |
| ·数据采集器的结构 | 第37-38页 |
| ·信号调理电路的设计与实现 | 第38-40页 |
| ·信号调理电路的设计要求 | 第38-39页 |
| ·运算放大器件的选择 | 第39-40页 |
| ·信号调理电路的设计 | 第40页 |
| ·MCU模块的设计与实现 | 第40-52页 |
| ·C8051F410单片机概述 | 第40-44页 |
| ·多通道A/D转换的实现 | 第44-46页 |
| ·UART通信的实现 | 第46-47页 |
| ·看门狗功能的实现 | 第47-48页 |
| ·端口输入/输出配置 | 第48-50页 |
| ·调试接口的实现 | 第50页 |
| ·MCU模块电路设计 | 第50-51页 |
| ·单片机软件程序设计 | 第51-52页 |
| ·通讯模块的设计与实现 | 第52-54页 |
| ·通讯模块器件的选择 | 第53-54页 |
| ·通讯模块电路的设计 | 第54页 |
| ·电源模块的设计与实现 | 第54-55页 |
| ·电源模块器件的选择 | 第55页 |
| ·电源模块电路设计 | 第55页 |
| ·信号通道校准 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第4章 激光粒度仪测控软件的设计与开发 | 第57-79页 |
| ·测控软件结构和功能设计 | 第57-58页 |
| ·数据读取模块的设计与实现 | 第58-62页 |
| ·MSComm控件介绍 | 第58-61页 |
| ·数据处理方法 | 第61页 |
| ·数据读取程序流程 | 第61-62页 |
| ·数据显示模块的设计与实现 | 第62-66页 |
| ·TeeChart控件介绍 | 第62-63页 |
| ·使用TeeChart控件实现图形显示 | 第63-66页 |
| ·数据存储模块的设计与实现 | 第66-69页 |
| ·VC++中使用ADO进行数据库操作 | 第66-68页 |
| ·数据库设计 | 第68-69页 |
| ·数学建模模块的设计与实现 | 第69-72页 |
| ·光能贡献矩阵元素的求解 | 第69-72页 |
| ·数学建模的程序流程图 | 第72页 |
| ·粒度求解模块的设计与实现 | 第72-78页 |
| ·分布函数限定法 | 第73-75页 |
| ·自由分布法 | 第75-76页 |
| ·求解算法验证 | 第76-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第5章 Mie理论应用于激光粒度仪的研究 | 第79-93页 |
| ·研究在激光粒度仪中应用Mie理论的意义 | 第79-80页 |
| ·夫琅和费衍射理论的局限性 | 第79页 |
| ·Mie理论应用的难点和限制 | 第79-80页 |
| ·Mie理论数值计算方法的研究 | 第80-84页 |
| ·Mie散射光强的计算公式 | 第80-81页 |
| ·散射角函数的计算 | 第81页 |
| ·散射系数的计算 | 第81-84页 |
| ·Mie散射光强计算方法的改进 | 第84-86页 |
| ·改进算法的描述 | 第84-85页 |
| ·算法评价 | 第85-86页 |
| ·Mie理论在激光粒度仪中的应用——扩展测量下限的研究 | 第86-92页 |
| ·衍射式激光粒度仪的测量下限 | 第86-87页 |
| ·扩展测量下限方法介绍 | 第87-89页 |
| ·增大探测角度的方法扩展测量下限 | 第89-91页 |
| ·仿真实验及结果 | 第91-92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 第6章 总结与展望 | 第93-95页 |
| ·工作总结 | 第93页 |
| ·后续工作展望 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-99页 |
| 致谢 | 第99页 |