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焊锡膏的适用性与检测技术研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-14页
    1.1 课题研究背景及意义第8-11页
        1.1.1 表面贴装技术第8-9页
        1.1.2 焊锡膏概述第9-10页
        1.1.3 焊锡膏的国内外研究现状第10-11页
    1.2 本文研究的主要内容第11-12页
    1.3 论文章节结构第12-14页
第2章 焊锡膏理论基础第14-20页
    2.1 焊锡合金微粉第14-15页
        2.1.1 合金微粉分类第14-15页
        2.1.2 合金微粉的制备第15页
    2.2 助焊剂第15-18页
        2.2.1 助焊剂的组成第16-17页
        2.2.2 助焊剂的分类第17-18页
    2.3 本章小结第18-20页
第3章 试验准备和试验工艺第20-34页
    3.1 试验相关标准第20页
    3.2 试验材料及设备第20-25页
        3.2.1 试验材料第20-21页
        3.2.2 试验设备第21-25页
    3.3 试验工艺及分析第25-32页
        3.3.1 锡膏搅拌工艺第25-26页
        3.3.2 锡膏印刷工艺第26-27页
        3.3.3 贴装工艺第27-28页
        3.3.4 回流焊接工艺第28-31页
        3.3.5 常见缺陷及分析第31-32页
    3.4 本章小结第32-34页
第4章 焊锡膏检测技术研究第34-48页
    4.1 锡珠试验第34-36页
        4.1.1 试验方法第34页
        4.1.2 试验结果第34-36页
    4.2 润湿性试验第36-37页
        4.2.1 试验方法第36页
        4.2.2 试验结果第36-37页
    4.3 润湿角测试第37-39页
        4.3.1 测试方法第38页
        4.3.2 测试结果第38-39页
    4.4 扩展率测试第39-40页
        4.4.1 测试方法第39页
        4.4.2 测试结果第39-40页
    4.5 坍塌性能测试第40-46页
        4.5.1 测试方法第40-41页
        4.5.2 测试结果第41-46页
    4.6 本章小结第46-48页
第5章 焊锡膏的适用性研究第48-62页
    5.1 元器件封装类型第48-50页
        5.1.1 QFP封装第48页
        5.1.2 BGA封装第48-49页
        5.1.3 LGA封装第49-50页
    5.2 实验流程第50-51页
        5.2.1 焊接流程第50页
        5.2.2 可靠性试验流程第50-51页
    5.3 结果检测及分析第51-60页
        5.3.1 QFP检测第51-53页
        5.3.2 BGA检测第53-58页
        5.3.3 LGA检测第58-60页
    5.4 本章小结第60-62页
结论第62-64页
参考文献第64-68页
致谢第68页

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