首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--设计论文

基于OVM的手机基带芯片定时器验证平台的设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 研究背景及意义第9-10页
    1.2 国内外发展现状和趋势第10-16页
        1.2.1 验证技术的划分第10-11页
        1.2.2 常用的功能验证技术第11-14页
        1.2.3 验证方法学的发展第14-16页
    1.3 论文主要工作和章节结构第16-17页
第二章 OVM 验证平台第17-43页
    2.1 传统的验证平台第17-18页
    2.2 OVM 的验证平台结构第18-41页
        2.2.1 为什么选择 OVM第18-19页
        2.2.2 System Verilog 语言简介第19-21页
        2.2.3 OVM 验证平台的结构第21-33页
        2.2.4 OVM 验证平台的运行机制第33-36页
        2.2.5 OVM 验证平台的启动第36页
        2.2.7 基于 SystemVerilog 的断言第36-38页
        2.2.8 验证效果的评估第38-41页
    2.3 本章小结第41-43页
第三章 OVM 验证平台的设计第43-65页
    3.1 手机基带芯片定时器的结构与功能第43-47页
        3.1.1 手机基带芯片的 SPCU 模块第43-45页
        3.1.2 定时器(GST)第45-47页
    3.2 基于 OVM 的 GST 验证策略第47-48页
        3.2.1 定向激励和受约束的随机激励相结合第47-48页
        3.2.2 代码覆盖率和功能覆盖率相结合第48页
    3.3 功能点的提取第48-50页
    3.4 验证平台的设计第50-64页
        3.4.1 事物第50-52页
        3.4.2 序列第52-53页
        3.4.3 驱动器第53-55页
        3.4.4 监测器第55-57页
        3.4.5 记分板第57-59页
        3.4.6 测试用例第59-61页
        3.4.7 顶层第61页
        3.4.8 断言的引入第61-64页
    3.5 本章小结第64-65页
第四章 OVM 验证平台的验证结果及分析第65-71页
    4.1 部分验证结果第65-67页
    4.2 功能覆盖率和代码覆盖率第67-69页
    4.3 验证平台性能评估第69-70页
    4.4 本章小结第70-71页
第五章 总结与展望第71-73页
    5.1 工作总结第71-72页
    5.2 工作展望第72-73页
致谢第73-75页
参考文献第75-79页
研究成果第79-80页

论文共80页,点击 下载论文
上一篇:基于条件神经域的语音情感识别研究
下一篇:N掺杂对6H-SiC氧化速率特性的影响