| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·背景介绍 | 第7-8页 |
| ·论文主要工作 | 第8页 |
| ·论文结构 | 第8-9页 |
| 第二章 I/O单元库结构 | 第9-17页 |
| ·I/O单元库结构概述 | 第9-14页 |
| ·数字输入/输出单元 | 第9-11页 |
| ·模拟输入/输出单元 | 第11页 |
| ·电源单元 | 第11-13页 |
| ·电源切断单元 | 第13-14页 |
| ·设计标准 | 第14-16页 |
| ·DC标准 | 第14-15页 |
| ·AC标准 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 I/O电路设计和仿真 | 第17-37页 |
| ·输入电路设计 | 第17-23页 |
| ·降压电路(level down)设计 | 第17-21页 |
| ·耐高压模块设计 | 第21-22页 |
| ·降压模块中的上拉电阻 | 第22页 |
| ·输入电路仿真结果 | 第22-23页 |
| ·输出电路设计 | 第23-31页 |
| ·前驱动电路(pre driver)设计 | 第24-25页 |
| ·电平转换器(level shifter)设计及优化 | 第25-27页 |
| ·后驱动电路(post driver)设计 | 第27-29页 |
| ·输出电路仿真结果 | 第29-31页 |
| ·上电探测电路设计 | 第31-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 I/O单元的ESD防护设计 | 第37-53页 |
| ·ESD概述 | 第37页 |
| ·静电放电模型以及工业标准 | 第37-40页 |
| ·静电放电的测试组合 | 第40-42页 |
| ·I/O-to-Pin的静电放电测试 | 第40-41页 |
| ·Pin-to-Pin的静电放电测试 | 第41-42页 |
| ·VDD-to-VSS的静电放电测试 | 第42页 |
| ·I/O电路的ESD防护电路设计 | 第42-52页 |
| ·输入引脚/输出引脚与VDD/VSS之间的ESD防护 | 第43-45页 |
| ·VDD与VSS电源线之间的ESD防护 | 第45-50页 |
| ·混合信号电路的ESD防护 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 版图实现与测试结果 | 第53-59页 |
| ·I/O单元库的版图实现 | 第53-55页 |
| ·测试结果 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 结论 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |