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用于紫外光电器件高质量AlN模板的MOCVD生长

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
1 绪论第9-14页
    1.1 研究背景第9-10页
    1.2 AlGaN 材料的优势及面临的问题第10-11页
    1.3 高质量 AlN 材料的特殊意义和研究现状第11-12页
    1.4 论文的组织与结构第12-14页
2 氮化铝的外延生长机理及表征技术第14-26页
    2.1 金属有机化合物气相外延设备第14-15页
    2.2 AlN 薄膜的 MOCVD 外延生长机理第15-16页
    2.3 反应源的输运系统第16-18页
    2.4 TMAl 源的流量计算第18-20页
    2.5 薄膜表征技术简介第20-24页
    2.6 本章小结第24-26页
3 高温连续 AlN 模板的生长研究第26-45页
    3.1 异质外延衬底的选择第26-28页
    3.2 脉冲法生长高温 AlN第28-31页
    3.3 连续生长法生长 AlN 外延层的参数优化第31-38页
    3.4 AlN 薄膜表面形貌的改善第38-44页
    3.5 本章小结第44-45页
4 中温 PALE-AlN 插入层的生长研究第45-60页
    4.1 AlN 薄膜中位错的形成机制第45-47页
    4.2 插入层的模型建立和实验验证第47-52页
    4.3 PALE-AlN 插入层的温度对 AlN 质量的影响第52-54页
    4.4 PALE-AlN 插入层的厚度对 AlN 质量的影响第54-56页
    4.5 AlN 裂纹的消除实验第56-59页
    4.6 本章小结第59-60页
5 总结与展望第60-62页
致谢第62-63页
参考文献第63-70页
附录 1 攻读学位期间发表论文目录第70页

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