SiGe器件电路模型参数提取
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-15页 |
·课题来源及研究意义 | 第8页 |
·模型参数提取的意义及动态 | 第8-11页 |
·SiGe技术国内外发展动态 | 第11-14页 |
·论文内容安排 | 第14-15页 |
第二章 SiGe器件原理及SPICE模型 | 第15-30页 |
·SiGe HBT器件基本原理 | 第15-17页 |
·SiGe HBT器件SPICE模型 | 第17-23页 |
·应变Si MOSFET基本原理 | 第23-24页 |
·应变Si MOSFET器件SPICE模型 | 第24-30页 |
第三章 SiGe HBT器件设计及参数提取 | 第30-54页 |
·参数提取的基本原理 | 第30-32页 |
·AURORA软件简介 | 第32页 |
·器件的设计 | 第32-37页 |
·发射区设计 | 第33页 |
·基区设计 | 第33-34页 |
·集电区设计 | 第34-36页 |
·模拟结果及分析 | 第36-37页 |
·器件的制备 | 第37-38页 |
·器件的测试 | 第38-40页 |
·改进的VBIC模型及其参数提取 | 第40-48页 |
·VBIC模型的改进 | 第40-42页 |
·电流参数提取 | 第42-45页 |
·电阻参数提取 | 第45-47页 |
·电容参数的提取 | 第47-48页 |
·渡越时间参数的提取 | 第48页 |
·参数提取结果及分析 | 第48-54页 |
·参数提取结果 | 第48-52页 |
·结果分析 | 第52-54页 |
第四章 应变Si PMOSFET电路模型参数提取 | 第54-62页 |
·器件的设计制备及测试 | 第54-58页 |
·器件设计 | 第54-56页 |
·器件制备 | 第56-57页 |
·器件测试 | 第57-58页 |
·器件模型的选取 | 第58-59页 |
·提参策略的制定 | 第59-60页 |
·参数提取结果及分析 | 第60-62页 |
第五章 结论 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
攻读硕士学位期间的研究成果 | 第66页 |