摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
引言 | 第10-12页 |
1. 课题背景 | 第10页 |
2. 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-11页 |
3. 论文的主要工作 | 第11-12页 |
第一章 CCD工作原理 | 第12-22页 |
·电荷的存储与耦合 | 第12-15页 |
·电荷存储 | 第12-13页 |
·电荷耦合 | 第13-15页 |
·电荷的注入和检测 | 第15-17页 |
·电荷的注入(输入方式) | 第15-16页 |
·电荷的检测(输出方式) | 第16-17页 |
·CCD的特性参数 | 第17-18页 |
·转移效率η和转移损失率ε | 第17页 |
·工作频率f | 第17-18页 |
·线阵CCD摄像器件的特性 | 第18-20页 |
·分辨率 | 第18-19页 |
·灵敏度 | 第19页 |
·噪声和动态范围 | 第19-20页 |
·本系统中CCD选型 | 第20-22页 |
第二章 图像处理技术 | 第22-40页 |
·计算机图像处理技术 | 第22-24页 |
·图像处理系统机构 | 第22页 |
·图像处理的主要方法 | 第22-23页 |
·图像处理的应用范围 | 第23-24页 |
·图像预处理技术的基本原理 | 第24-40页 |
·本文涉及的几种图像预处理技术概述 | 第24-27页 |
·边缘检测技术在本文中的应用 | 第27-40页 |
1) Sobel算子 | 第27-28页 |
2) Robert算子 | 第28-29页 |
3) Prewitt算子 | 第29页 |
4) 高斯—拉普拉斯算子 | 第29-31页 |
5) 分数阶微积分边缘算子的分析 | 第31-40页 |
a. 一维阶跃型边缘的分数阶导数分析 | 第32-35页 |
b. 分数阶边缘检测算子的推导 | 第35-37页 |
c. 滤波和微分的合并算法 | 第37-38页 |
d. 分数阶导数算子在边缘检测中的性能分析 | 第38-40页 |
第三章 缺陷特征的提取和判断规则 | 第40-48页 |
·玻璃缺陷的特征提取原理 | 第40-42页 |
·各种玻璃缺陷的特征 | 第42-43页 |
(1) 气泡缺陷特征 | 第42页 |
(2) 裂纹缺陷特征 | 第42-43页 |
·玻璃缺陷的特征提取 | 第43-48页 |
·缺陷的几何特征 | 第43-44页 |
·玻璃缺陷的图像特征参数 | 第44-48页 |
第四章 介绍平板玻璃缺陷检测系统的工作原理及设计方案 | 第48-57页 |
·研究原理 | 第48-51页 |
·关于光源的选择 | 第48-49页 |
·CCD摄像机成像模块 | 第49-50页 |
·检测系统设计图 | 第50-51页 |
·图像处理 | 第51-57页 |
·图像预处理 | 第51-52页 |
·图像分割 | 第52-53页 |
·特征提取 | 第53-57页 |
第五章 结论 | 第57-59页 |
·工作回顾 | 第57页 |
·结论 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-62页 |
致谢 | 第62-63页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第63页 |