基于TNoC的追踪调试系统在基带芯片中的应用
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
缩略语对照表 | 第11-15页 |
第一章 绪论 | 第15-21页 |
1.1 SoC硅后调试需求 | 第15页 |
1.2 硅后片上调试的挑战 | 第15-16页 |
1.3 国内外研究现状 | 第16-18页 |
1.3.1 NoC技术研究现状 | 第16-17页 |
1.3.2 调试技术研究现状 | 第17-18页 |
1.4 研究内容及意义 | 第18页 |
1.5 研究意义 | 第18-19页 |
1.6 论文组织结构 | 第19-21页 |
第二章 SoC硅后调试及NoC技术 | 第21-33页 |
2.1 硬件调试技术 | 第21-23页 |
2.1.1 硅前验证技术 | 第21-22页 |
2.1.2 硅后调试技术 | 第22-23页 |
2.2 NoC技术 | 第23-28页 |
2.2.1 NoC基本组件 | 第23-24页 |
2.2.2 拓扑结构及路由算法 | 第24-27页 |
2.2.3 包交换和缓冲策略 | 第27页 |
2.2.4 流量控制及服务质量 | 第27-28页 |
2.3 多缓存追踪调试系统 | 第28-32页 |
2.3.1 基于多缓存端口仲裁的追踪调试系统 | 第28-31页 |
2.3.2 基于复用NoC的追踪调试系统 | 第31-32页 |
2.4 小结 | 第32-33页 |
第三章 TNoC结构及原理 | 第33-57页 |
3.1 TNoC组件 | 第33-47页 |
3.1.1 TNoC通用网络接口GNI | 第33-39页 |
3.1.2 TNoC源端专用网络接口 | 第39-41页 |
3.1.3 TNoC目的端专用网络接口 | 第41-44页 |
3.1.4 TNoC路由器 | 第44-47页 |
3.2 TNoC数据链路 | 第47-53页 |
3.2.1 SRAM接口 | 第47-49页 |
3.2.2 IFL接口协议 | 第49-53页 |
3.3 TNoC消息格式 | 第53-55页 |
3.3.1 TNoC包头格式 | 第54页 |
3.3.2 TNoC追踪数据包格式 | 第54-55页 |
3.4 小结 | 第55-57页 |
第四章 TNoC在追踪调试系统中的应用 | 第57-89页 |
4.1 MPSoC基带芯片简介 | 第57-59页 |
4.2 TNoC在基带MPSoC中的应用 | 第59-67页 |
4.2.1 TNoC在基带芯片中的结构 | 第59-60页 |
4.2.2 软件和硬件追踪 | 第60-63页 |
4.2.3 TNoC设计参数 | 第63-65页 |
4.2.4 寄存器访问 | 第65-67页 |
4.3 TNoC性能仿真分析 | 第67-77页 |
4.3.1 性能优化流程 | 第67-68页 |
4.3.2 TNoC性能仿真环境 | 第68-71页 |
4.3.3 TNoC性能仿真分析 | 第71-77页 |
4.4 监视器 | 第77-79页 |
4.4.1 追踪信号选择 | 第77页 |
4.4.2 监视器结构 | 第77-79页 |
4.5 追踪数据分类处理模块 | 第79-84页 |
4.5.1 追踪数据过滤和分类 | 第81-82页 |
4.5.2 MBT仲裁器 | 第82页 |
4.5.3 MBT存储转发模块 | 第82-84页 |
4.6 追踪数据压缩 | 第84-87页 |
4.6.2 压缩模块结构及原理 | 第84-87页 |
4.6.3 压缩性能 | 第87页 |
4.7 小结 | 第87-89页 |
第五章 仿真分析和对比 | 第89-97页 |
5.1 不同调试系统结构对比 | 第89-90页 |
5.2 TNoC验证环境 | 第90-93页 |
5.3 带宽分析 | 第93页 |
5.4 面积对比分析 | 第93-95页 |
5.5 小结 | 第95-97页 |
第六章 总结与展望 | 第97-99页 |
6.1 总结 | 第97-98页 |
6.2 展望 | 第98-99页 |
参考文献 | 第99-103页 |
致谢 | 第103-105页 |
作者简介 | 第105-106页 |