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基于TNoC的追踪调试系统在基带芯片中的应用

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
缩略语对照表第11-15页
第一章 绪论第15-21页
    1.1 SoC硅后调试需求第15页
    1.2 硅后片上调试的挑战第15-16页
    1.3 国内外研究现状第16-18页
        1.3.1 NoC技术研究现状第16-17页
        1.3.2 调试技术研究现状第17-18页
    1.4 研究内容及意义第18页
    1.5 研究意义第18-19页
    1.6 论文组织结构第19-21页
第二章 SoC硅后调试及NoC技术第21-33页
    2.1 硬件调试技术第21-23页
        2.1.1 硅前验证技术第21-22页
        2.1.2 硅后调试技术第22-23页
    2.2 NoC技术第23-28页
        2.2.1 NoC基本组件第23-24页
        2.2.2 拓扑结构及路由算法第24-27页
        2.2.3 包交换和缓冲策略第27页
        2.2.4 流量控制及服务质量第27-28页
    2.3 多缓存追踪调试系统第28-32页
        2.3.1 基于多缓存端口仲裁的追踪调试系统第28-31页
        2.3.2 基于复用NoC的追踪调试系统第31-32页
    2.4 小结第32-33页
第三章 TNoC结构及原理第33-57页
    3.1 TNoC组件第33-47页
        3.1.1 TNoC通用网络接口GNI第33-39页
        3.1.2 TNoC源端专用网络接口第39-41页
        3.1.3 TNoC目的端专用网络接口第41-44页
        3.1.4 TNoC路由器第44-47页
    3.2 TNoC数据链路第47-53页
        3.2.1 SRAM接口第47-49页
        3.2.2 IFL接口协议第49-53页
    3.3 TNoC消息格式第53-55页
        3.3.1 TNoC包头格式第54页
        3.3.2 TNoC追踪数据包格式第54-55页
    3.4 小结第55-57页
第四章 TNoC在追踪调试系统中的应用第57-89页
    4.1 MPSoC基带芯片简介第57-59页
    4.2 TNoC在基带MPSoC中的应用第59-67页
        4.2.1 TNoC在基带芯片中的结构第59-60页
        4.2.2 软件和硬件追踪第60-63页
        4.2.3 TNoC设计参数第63-65页
        4.2.4 寄存器访问第65-67页
    4.3 TNoC性能仿真分析第67-77页
        4.3.1 性能优化流程第67-68页
        4.3.2 TNoC性能仿真环境第68-71页
        4.3.3 TNoC性能仿真分析第71-77页
    4.4 监视器第77-79页
        4.4.1 追踪信号选择第77页
        4.4.2 监视器结构第77-79页
    4.5 追踪数据分类处理模块第79-84页
        4.5.1 追踪数据过滤和分类第81-82页
        4.5.2 MBT仲裁器第82页
        4.5.3 MBT存储转发模块第82-84页
    4.6 追踪数据压缩第84-87页
        4.6.2 压缩模块结构及原理第84-87页
        4.6.3 压缩性能第87页
    4.7 小结第87-89页
第五章 仿真分析和对比第89-97页
    5.1 不同调试系统结构对比第89-90页
    5.2 TNoC验证环境第90-93页
    5.3 带宽分析第93页
    5.4 面积对比分析第93-95页
    5.5 小结第95-97页
第六章 总结与展望第97-99页
    6.1 总结第97-98页
    6.2 展望第98-99页
参考文献第99-103页
致谢第103-105页
作者简介第105-106页

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