首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--一般性问题论文--结构论文

EMC测试系统的仪器控制通用性技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-15页
第一章 绪论第15-21页
    1.1 研究背景和意义第15页
    1.2 国内外研究动态第15-17页
    1.3 论文主要内容第17-21页
第二章 电磁兼容测试系统的分类第21-39页
    2.1 电磁兼容测试分类第21-30页
        2.1.1 电磁兼容标准测试第21-23页
        2.1.2 电磁兼容现场测试第23-25页
        2.1.3 电磁脉冲时域测试第25-30页
    2.2 测试仪器技术第30-38页
        2.2.1 EMI接收机第30-31页
        2.2.2 频谱分析仪第31-35页
        2.2.3 数字示波器第35-38页
    2.3 本章小结第38-39页
第三章 仪器控制通用性技术的实现第39-57页
    3.1 仪器控制通用性实现基础第39-45页
        3.1.1 通用控制总线第39-41页
        3.1.2 VISA通用接口函数第41-42页
        3.1.3 SCPI标准仪器程控命令第42-45页
    3.2 仪器控制通用性实现原理第45-51页
        3.2.1 EMC测试仪器程控模块通用性设计第45-46页
        3.2.2 示波器通用性控件的开发过程第46-51页
    3.3 测试数据的通用性算法第51-54页
    3.4 仪器间的协同工作第54-56页
    3.5 本章小结第56-57页
第四章 典型脉冲防护通用测试系统的设计与开发第57-79页
    4.1 通用测试系统整体规划第57-62页
        4.1.1 测试系统需求分析第57-58页
        4.1.2 测试系统总体设计第58-59页
        4.1.3 测试软件规划第59-62页
    4.2 测试软件功能模块设计第62-72页
        4.2.1 示波器程制模块第62-63页
        4.2.2 信号采集模块第63-66页
        4.2.3 数据处理模块第66-69页
        4.2.4 数据库管理及报告生成模块第69-72页
    4.3 测试软件用户界面设计第72-78页
        4.3.1 测试主界面第72-74页
        4.3.2 曲线时频域分析界面第74-75页
        4.3.3 数据库管理界面第75-77页
        4.3.4 仪器通信故障界面第77-78页
    4.4 本章小结第78-79页
第五章 总结与展望第79-81页
    5.1 全文总结第79页
    5.2 工作展望第79-81页
参考文献第81-85页
致谢第85-87页
作者简介第87-88页

论文共88页,点击 下载论文
上一篇:基于半模基片集成波导的可重构带通滤波器的设计与实现
下一篇:基于TNoC的追踪调试系统在基带芯片中的应用