| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 线扫描CMOS图像传感器的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文的主要贡献和创新 | 第11-12页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 TDI型CMOS图像传感器读出电路的基本模块 | 第13-31页 |
| 2.1 像素单元的结构 | 第14-21页 |
| 2.1.1 电容反馈跨阻放大器（CTIA） | 第14-15页 |
| 2.1.2 3T源随像素（SF） | 第15-21页 |
| 2.2 CDS电路的基本原理 | 第21-23页 |
| 2.2.1 CDS电路的数学原理 | 第21-22页 |
| 2.2.2 基本的CDS结构 | 第22-23页 |
| 2.3 输出缓冲器电路结构 | 第23-29页 |
| 2.3.1 恒定跨导输入级 | 第24-26页 |
| 2.3.2 采用浮动电流源的AB类输出结构 | 第26-28页 |
| 2.3.3 频率补偿电路 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 TDI型CMOS图像传感器读出电路中的失调分析 | 第31-41页 |
| 3.1 TDI型CMOS图像传感器的评价指标 | 第31-32页 |
| 3.2 全电荷转移型双采样结构 | 第32-35页 |
| 3.3 抑制失调的双采样结构 | 第35-36页 |
| 3.4 存储器型的双采样结构 | 第36-37页 |
| 3.5 本文采用的CDS结构 | 第37-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 TDI型CMOS图像传感器读出电路系统架构研究 | 第41-64页 |
| 4.1 TDI型CMOS图像传感器的工作原理 | 第41-42页 |
| 4.2 模拟域累加器的研究 | 第42-49页 |
| 4.2.1 模拟域累加器的结构和工作原理 | 第42-45页 |
| 4.2.2 全差分运算放大器 | 第45-49页 |
| 4.3 模拟域累加器的仿真 | 第49-62页 |
| 4.3.1 模拟域累加器的同步累加性 | 第49-53页 |
| 4.3.2 模拟域累加器累加误差分析 | 第53-62页 |
| 4.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 附录 | 第71-73页 |
