| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第12-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-17页 |
| 1.2.1 老化问题的研究现状 | 第16-17页 |
| 1.2.2 软错误的研究现状 | 第17页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第17-18页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第17页 |
| 1.3.2 研究内容及创新点 | 第17-18页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第18-20页 |
| 2 电路老化的基本知识及仿真工具 | 第20-30页 |
| 2.1 老化基本知识简述 | 第20-24页 |
| 2.1.1 电路失效概述 | 第20-21页 |
| 2.1.2 NBTI的基本知识 | 第21-23页 |
| 2.1.3 老化检测与老化预测 | 第23-24页 |
| 2.2 软错误的基本知识简介 | 第24页 |
| 2.3 HSPICE仿真工具 | 第24-29页 |
| 2.3.1 HSPICE软件的使用流程 | 第25页 |
| 2.3.2 HSPICE文件及书写规则 | 第25-26页 |
| 2.3.3 HSPICE中几个重要语句 | 第26-27页 |
| 2.3.4 HSPICE案例分析 | 第27-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 3 老化失效预测结构分析 | 第30-40页 |
| 3.1 经典的ARSC结构 | 第30-35页 |
| 3.1.1 ARSC的总体结构 | 第30-31页 |
| 3.1.2 ARSC检测部分的工作原理 | 第31-35页 |
| 3.1.3 ARSC的优缺点 | 第35页 |
| 3.2 对ARSC的改进 | 第35-38页 |
| 3.2.1 改进之后的总体结构 | 第35-36页 |
| 3.2.2 改进结构的工作原理 | 第36-37页 |
| 3.2.3 改进结构的优缺点 | 第37-38页 |
| 3.3 本章小结 | 第38-40页 |
| 4 一种容软错误的可编程老化预测传感器 | 第40-56页 |
| 4.1 总体框架结构 | 第40-41页 |
| 4.2 延迟单元的设计 | 第41-44页 |
| 4.3 稳定性检测器的设计 | 第44-45页 |
| 4.4 实验结果 | 第45-54页 |
| 4.4.1 保护带宽度的分析 | 第45-46页 |
| 4.4.2 实现抵抗软错误功能的分析 | 第46-49页 |
| 4.4.3 不同情况下的输出波形的分析 | 第49-51页 |
| 4.4.4 面积开销分析 | 第51-52页 |
| 4.4.5 功耗开销分析 | 第52-53页 |
| 4.4.6 瞬时电流分析 | 第53-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-56页 |
| 5 一种保护区域可调的老化预测传感器 | 第56-64页 |
| 5.1 一种保护区域可调的老化预测传感器的整体结构 | 第56页 |
| 5.2 一种保护区域可调的老化预测传感器的工作原理 | 第56-58页 |
| 5.3 实验部分 | 第58-62页 |
| 5.3.1 仿真结果分析 | 第58-59页 |
| 5.3.2 面积开销分析 | 第59-60页 |
| 5.3.3 功耗开销分析 | 第60页 |
| 5.3.4 瞬时电流分析 | 第60-62页 |
| 5.4 本章总结 | 第62-64页 |
| 6 结论 | 第64-66页 |
| 6.1 总结 | 第64-65页 |
| 6.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 作者简介及读研期间主要科研成果 | 第74页 |