| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16页 |
| 1.3 论文组织结构 | 第16-19页 |
| 第二章 RF ESD技术基础 | 第19-27页 |
| 2.1 RF-ESD设计的重难点 | 第19-20页 |
| 2.1.1 ESD防护结构对核心电路的影响 | 第19-20页 |
| 2.1.2 核心电路对ESD防护结构的影响 | 第20页 |
| 2.2 ESD模型 | 第20-23页 |
| 2.2.1 人体放电模型 | 第20-21页 |
| 2.2.2 机器放电模型 | 第21-22页 |
| 2.2.3 器件充电模型 | 第22-23页 |
| 2.3 去嵌入测试方法 | 第23-25页 |
| 2.4 小结 | 第25-27页 |
| 第三章 I/O口的防护寄生优化设计 | 第27-47页 |
| 3.1 I/O口防护优化方向 | 第27-28页 |
| 3.2 器件结构级的优化方案 | 第28-37页 |
| 3.2.1 基于改善二极管本征势垒电容的优化方法 | 第28-31页 |
| 3.2.2 基于改善二极管与外围寄生电容的优化方法 | 第31-37页 |
| 3.3 电路级设计的优化方案 | 第37-42页 |
| 3.3.1 堆叠二极管的防护网络 | 第37-39页 |
| 3.3.2 分布式网络结构 | 第39-40页 |
| 3.3.3 引入电感的防护结构 | 第40-42页 |
| 3.4 版图绘制时的一些细节问题 | 第42-43页 |
| 3.5 深槽隔离结构流片测试结果 | 第43-45页 |
| 3.6 小结 | 第45-47页 |
| 第四章 电源箝位电路设计 | 第47-61页 |
| 4.1 ESD电源箝位电路 | 第47-49页 |
| 4.1.1 电路结构分类 | 第47页 |
| 4.1.2 电路的性能指标 | 第47-49页 |
| 4.2 电源箝位电路结构拓扑 | 第49-52页 |
| 4.2.1 电压触发电源箝位电路 | 第49-50页 |
| 4.2.2 频率触发的电源箝位电路 | 第50-51页 |
| 4.2.3 电压和频率共同触发的电源箝位电路 | 第51-52页 |
| 4.3 电源箝位电路的设计优化 | 第52-58页 |
| 4.3.1 现有的RC检测电源箝位电路 | 第52-53页 |
| 4.3.2 电路结构分析优化 | 第53-55页 |
| 4.3.3 电路设计与仿真 | 第55-58页 |
| 4.4 全芯片ESD防护总体布局 | 第58-59页 |
| 4.5 小结 | 第59-61页 |
| 第五章 总结与不足 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 作者简介 | 第69-70页 |