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基于SiC MOSFET的SST隔离级的研究设计

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第10-18页
    1.1 课题研究背景第10-11页
    1.2 国内外发展现状及趋势第11-16页
        1.2.1 功率半导体器件概述第11-12页
        1.2.2 SST发展趋势及隔离级拓扑研究第12-16页
    1.3 主要研究内容第16-18页
第二章 SiC MOSFET工作特性分析及驱动电路设计要求第18-27页
    2.1 SiC MOSFET物理结构第18-19页
    2.2 SiC MOSFET与SiMOSFET特性比较第19-22页
        2.2.1 SiC材料与Si材料半导体对比第19-20页
        2.2.2 SiC MOSFET与Si MOSFET开关特性对比第20-22页
    2.3 驱动电阻对SiC MOSFET开关特性的影响第22-23页
    2.4 驱动电路设计要求第23-26页
        2.4.1 驱动电路分类第23-24页
        2.4.2 桥式电路串扰问题分析第24-25页
        2.4.3 SiC MOSFET驱动电路设计要求第25-26页
    2.5 本章小结第26-27页
第三章 SST隔离级控制策略分析及时域模型建立第27-40页
    3.1 DAB拓扑结构的简化第27-29页
    3.2 三种控制策略的分析第29-37页
        3.2.1 CPS控制策略下的工作原理及时域模型第29-32页
        3.2.2 EPS控制策略下的工作原理及时域模型第32-35页
        3.2.3 TPS控制策略下的工作原理及时域模型第35-37页
    3.3 本文提出的新型控制策略介绍第37-39页
    3.4 本章小结第39-40页
第四章 SST隔离级硬件及软件的设计及实现第40-57页
    4.1 SST隔离级功率电路设计第40-43页
        4.1.1 功率器件选型及相关参数计算第40-41页
        4.1.2 高频变压器的设计第41-43页
    4.2 SST隔离级采样电路设计第43-45页
    4.3 SST隔离级驱动电路设计第45-47页
        4.3.1 SiC MOSFET驱动电路选择第45-46页
        4.3.2 驱动电路硬件设计及实物图第46-47页
    4.4 SST隔离级控制电路设计第47-52页
        4.4.1 控制电路的分析第47-48页
        4.4.2 SST隔离级建模第48-51页
        4.4.3 控制器的设计第51-52页
    4.5 基于TMS320F28035的软件设计与实现第52-55页
        4.5.1 TMS320F28035介绍及程序设计基本思想第52-53页
        4.5.2 控制器资源分配第53-55页
        4.5.3 移相脉冲产生方法第55页
        4.5.4 软件保护的设计及其他功能的实现第55页
    4.6 本章小结第55-57页
第五章 系统整体仿真与实验验证第57-62页
    5.1 SST隔离级仿真分析第57-59页
    5.2 SST隔离级实验验证第59-61页
    5.3 本章小结第61-62页
第六章 总结与展望第62-64页
    6.1 工作总结第62-63页
    6.2 研究展望第63-64页
参考文献第64-68页
在学期间的研究成果第68-69页
致谢第69页

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